武漢普賽斯儀表有限公司方案

• 普賽斯儀表 | 納米材料霍爾效應(yīng)/電阻率等電性能參數(shù)測試解決方案2024-09-12 15:05

  

  納米材料/納米電子器件電學(xué)測試面臨的挑戰(zhàn)1、納米級尺寸性能不同于宏尺寸材料與器件狀態(tài)變化快，對測試儀器響應(yīng)速度有要求2、測試信號微弱多在樣品研發(fā)階段單位面積產(chǎn)生的電壓/電流的微弱信號電流信號nA甚至pA級，對設(shè)備的微弱信號檢測能力要求高3、外部噪聲干擾需要降低外部噪聲影響，屏蔽濾波，無干擾降低熱電噪聲，材質(zhì)、溫度適當(dāng)?shù)倪B接方式：四線制，降低線損壓降；三同軸GUARD方式，降低線纜漏電流納米材料電學(xué)

  數(shù)字源表 電阻率測量 納米材料 霍爾效應(yīng) 696瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 光電探測器電性能參數(shù)測試解決方案2024-09-12 13:37

  

  光電探測器光電測試光電探測器一般需要先對晶圓進(jìn)行測試，封裝后再對器件進(jìn)行二次測試，完成最終的特性分析和分揀操作，光電探測器在工作時，需要施加反向偏置電壓來拉開光注入產(chǎn)生的電子空穴對，從而完成光生載流子過程,因此光電探測器通常在反向狀態(tài)工作；測試時比較關(guān)注暗電流、反向擊穿電壓、結(jié)電容、響應(yīng)度、串?dāng)_等參數(shù)。利用數(shù)字源表（SMU)進(jìn)行光電探測器光電性能表征實施光電性能參數(shù)表征分析的最佳工具之一是數(shù)字源表

  光電探測器 探測器 數(shù)字源表 電性能測試 1.6k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 鈣鈦礦太陽能電池I-V特性測試解決方案2024-09-12 11:12

  

  為什么選擇數(shù)字源表來進(jìn)行鈣鈦礦太陽能電池的I-V測試?許多半導(dǎo)體和電子裝置測試都要盡可能快的輸出電壓和測量電流。整體測試時間是由充電時間、測量時間、放電時間，以及設(shè)定和處理測試時間所組成的函數(shù)。傳統(tǒng)的電源只能輸出電壓或電流，而無法作為負(fù)載吸收能量，而數(shù)字源表(SMU)是一種可以提供完整的四象限運行的精密儀表，當(dāng)工作在第2和第4象限時,可以作為阱(負(fù)載)吸收能量，工作在第1和第3象限時，可以作為源輸

  數(shù)字源表 測試 測量電流 1k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 創(chuàng)新技術(shù)突破,激光器老化測試系統(tǒng)解決方案2024-06-07 11:28

  

  大功率激光器在光束質(zhì)量、工作效率、結(jié)構(gòu)體積、壽命和系統(tǒng)維護(hù)等方面具有明顯的優(yōu)勢。但與此同時,由于單顆芯片出光功率大，單位面積產(chǎn)生的熱量大，如果不做好散熱技術(shù)，將直接影響半導(dǎo)體激光器輸出功率、閾值電流密度、電光轉(zhuǎn)化效率、微分量子效率、偏振度等性能，并導(dǎo)致半導(dǎo)體激光器壽命和可靠性的下降，甚至?xí)p毀芯片，最終影響器件可靠性。在交付使用之前需要將激光器芯片置于高的溫度和電流等極端操作條件下進(jìn)行壽命和可靠性

  激光器 老化測試 1.3k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 普賽斯電流傳感器測試解決方案2024-06-07 11:06

  

  電流傳感器依據(jù)測量原理不同，主要可分為：分流器、電磁式電流傳感器、電子式電流傳感器、TMR磁傳感器等。電子式電流傳感器包括霍爾電流傳感器、羅柯夫斯基電流傳感器及專用于變頻電量測量的變頻功率傳感器(可用于電壓、電流和功率測量)等?；魻栯娏鱾鞲衅髋cTMR磁傳感器，都是是利用霍爾效應(yīng)而制成的一種非接觸式傳感器?；魻栃?yīng)，是一種磁場和感應(yīng)電壓之間的關(guān)系。當(dāng)電流通過一個位于磁場中的導(dǎo)體的時候,磁場會對導(dǎo)體中

  電流傳感器 霍爾傳感器 霍爾效應(yīng) 霍爾電流傳感器 1.8k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 二極管/三極管/MOS管電性能測試解決方案2024-06-06 16:19

  

  實施半導(dǎo)體分立器件特性參數(shù)分析的最佳工具之—是數(shù)字源表(SMU)。數(shù)字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、伏特計、安培計和歐姆表，還可用作精密電子負(fù)載，其高性能架構(gòu)還允許將其用作脈沖發(fā)生器、波形發(fā)生器和自動電流-電壓(I-V)特性分析系統(tǒng)，支持四象限工作。解決了傳統(tǒng)多臺測試儀表之間編程、同步、接線繁雜及總線傳輸慢等問題。常見測試半導(dǎo)體分立器件包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管、晶體管、場效應(yīng)管等。

  IV測試 MOS管 三極管 二極管 數(shù)字源表 2.5k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | 氣敏電阻/壓敏電阻特性分析解決方案2024-06-06 15:43

  

  利用源表SMU可以靈活的進(jìn)行電阻測量I-V測試是對待測器件(DUT)施加電壓或電流，然后測試其對激勵做出的響應(yīng)。根據(jù)待測器件(DUT)的不同，信號電平可能相當(dāng)?shù)?需要高靈敏度源和測量儀器及測試技術(shù)，最大限度地減少誤差的外部來源，而且需要有快的測試速度和高的測試可靠性做保證。氣敏電阻/壓敏電阻I-V特性測試傳統(tǒng)需要幾臺儀器完成，如數(shù)字表、電壓源、電流源等。然而，由數(shù)臺儀器組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、

  IV測試 壓敏電阻 數(shù)字源表 氣體傳感器 氣敏電阻 1.8k瀏覽量

• 普賽斯儀表 | VCSEL窄脈沖LIV測試解決方案2024-06-06 14:26

  

  VCSEL常見測試參數(shù)特性分析VCSEL器件廣泛應(yīng)用于3D人臉識別和距離傳感。當(dāng)VCSEL陣列用于TOF模組，特別是激光雷達(dá)一類的dTOF系統(tǒng)時，VCSEL在窄脈沖情況下的峰值功率、工作電流、工作電壓、轉(zhuǎn)化效率、近遠(yuǎn)場光學(xué)特性等參數(shù)對于芯片供應(yīng)商、封裝服務(wù)商、模組集成商等都非常重要。VCSEL和VCSEL陣列，包括各種激光二極管標(biāo)準(zhǔn)檢測的關(guān)鍵電性能技術(shù)參數(shù)，常見如激光二極管正向壓降(VF)、Kin

  VCSEL 測試 脈沖測試 2.9k瀏覽量