推動(dòng)高能效創(chuàng)新的安森美半導(dǎo)體 （ON Semiconductor，美國(guó)納斯達(dá)克上市代號(hào)：ON），推出了由該公司硅光電倍增管 （SiPM） 技術(shù)實(shí)現(xiàn)的單點(diǎn)直接飛行時(shí)間 （dToF） 的激光雷達(dá)方案。

光檢測(cè)和測(cè)距或激光雷達(dá)的應(yīng)用在所有領(lǐng)域都在增長(zhǎng)，包括機(jī)器人和強(qiáng)制要求毫米范圍精度的工業(yè)接近感知。它通?；赿ToF方法，測(cè)量通常在近紅外 （NIR） 波長(zhǎng)范圍內(nèi)的一個(gè)光脈沖往返于一個(gè)物體所需的時(shí)間。

盡管原理很簡(jiǎn)單，但其應(yīng)用可能會(huì)帶來挑戰(zhàn)性，例如周圍太陽(yáng)光較強(qiáng)等環(huán)境因素。為了準(zhǔn)確確定范圍，接收器需要捕獲盡可能多的信號(hào)。就響應(yīng)時(shí)間和靈敏度而言，傳統(tǒng)的光電二極管在這方面會(huì)受到影響。安森美半導(dǎo)體開發(fā)的硅光電倍增管 （SiPM） 傳感器提供更快的響應(yīng)時(shí)間和高檢測(cè)效率，克服了這些不足。該參考平臺(tái)使用安森美半導(dǎo)體第二代SiPM 傳感器RB系列，在紅色和NIR范圍都帶來更高的性能。

安森美半導(dǎo)體開發(fā)的SiPM dToF激光雷達(dá)平臺(tái)提供低成本、單點(diǎn)激光雷達(dá)的完整方案，原始設(shè)備制造商 （OEM） 可靈活調(diào)整并投入生產(chǎn)，以創(chuàng)建工業(yè)測(cè)距應(yīng)用。它包括NIR激光二極管、SiPM傳感器和光學(xué)器件，以及將檢測(cè)到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為經(jīng)過時(shí)間，以及將經(jīng)過時(shí)間轉(zhuǎn)換為距離所需的數(shù)字處理。

為加快客戶的上市時(shí)間，安森美半導(dǎo)體提供該參考平臺(tái)的所有設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)，涵蓋原理圖、物料單 （BoM） 、gerber文件和PCB設(shè)計(jì)文件?？蛻暨€可以訪問基于PC的圖形用戶接口（GUI），提供隨時(shí)間變化的測(cè)量結(jié)果的圖形。生成的直方圖進(jìn)一步證明該系統(tǒng)在測(cè)距、碰撞檢測(cè)和3D制圖等應(yīng)用的能力。

安森美半導(dǎo)體物聯(lián)網(wǎng)主管Wiren Perera說：“使用dToF激光雷達(dá)進(jìn)行測(cè)距，滿足了許多應(yīng)用的關(guān)鍵需求，從自主導(dǎo)航到地圖繪制到監(jiān)控。但是，開發(fā)基于dToF激光雷達(dá)的系統(tǒng)可能具有挑戰(zhàn)性。我司的這個(gè)平臺(tái)顯然證實(shí)這領(lǐng)先技術(shù)的效用。有了經(jīng)驗(yàn)證的設(shè)計(jì)，客戶就能更快地進(jìn)行概念驗(yàn)證，并迅速將產(chǎn)品推向市場(chǎng)。”

SiPM dToF激光雷達(dá)平臺(tái)可檢測(cè)10厘米至23米距離的物體。使用提供的GUI提供開箱即用的體驗(yàn)，使工程師可以立即開始評(píng)估該技術(shù)。該設(shè)計(jì)已獲得美國(guó)食品和藥物管理局 （FDA） 一類認(rèn)證，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040．10 / 1040．11激光安全標(biāo)準(zhǔn)。

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