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TMAH溶液對硅得選擇性刻蝕研究

華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造 ? 來源:華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造 ? 作者:華林科納半導(dǎo)體設(shè) ? 2022-05-20 16:37 ? 次閱讀
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我們?nèi)A林科納研究了TMAH溶液中摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻的性能受蝕刻溫度、刻蝕時間和刮刻載荷的影響,通過對比試驗,評價了硅摩擦誘導(dǎo)的選擇性蝕刻的機理,各種表面圖案的制造被證明與控制尖端痕跡劃傷。

蝕刻時間和溫度對選擇性蝕刻的影響

當金剛石尖端劃傷硅表面時,劃傷區(qū)域發(fā)生晶格變形,形成非晶態(tài)層和扭曲結(jié)構(gòu),以及硅氧化物,由于晶體硅的蝕刻率遠高于劃傷區(qū)域,因此從劃傷的痕跡中可以產(chǎn)生突出的山丘或納米結(jié)構(gòu),圖1顯示了蝕刻溫度對在10uN的施加載荷下由劃痕引起的納米結(jié)構(gòu)形成的影響。一般來說,在不同的溫度下蝕刻30秒會導(dǎo)致小山丘的形成,當溫度為25°C時,選擇性蝕刻在15分析內(nèi)形成突出的山丘,而在35°C及以上,5分析時沒有選擇性蝕刻,結(jié)果表明,在相同的蝕刻時間下,溫度越高蝕刻速度越快。

在不同溫度下,山丘高度與不同溫度下蝕刻時間的函數(shù),如圖2所示。結(jié)果表明,在1min范圍內(nèi),高度隨著溫度升高到50°C而增加,由于氧化硅和TMAH之間的快速化學(xué)反應(yīng)在高溫下,5分鐘的蝕刻導(dǎo)致丘的崩潰,和選擇性蝕刻沒有觀察到溫度高于50°C。因此,選擇性蝕刻持續(xù)更長時間,即使低溫導(dǎo)致蝕刻率相對較低,結(jié)果表明,低溫即25°C,促進了可控的選擇性蝕刻。

從圖1和圖2的結(jié)果可以看出,在TMAH溶液中選擇性蝕刻時間對硅表面突出丘的高度有明顯的影響,在25°C時進一步研究了山丘高度的蝕刻時間變化,隨著蝕刻時間從0增加到8分鐘,山丘高度迅速增加,最大高度達到136納米,預(yù)計新形成的山丘的頂部材料,這是傾斜的結(jié)i(111)平面兩側(cè)的丘,有高化學(xué)活動,和山頂部將迅速蝕刻,導(dǎo)致丘的消失長時間蝕刻,因此,本研究采用8分鐘作為納米制備的最佳蝕刻時間。

在TMAH溶液中選擇性蝕刻對硅表面的納米定位

摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻是一種用于表面圖案化和制造的低成本且靈活的方法,應(yīng)該注意的是,基于掃描探針顯微鏡(SPM)的通過直接刮擦的納米制造需要高的法向載荷或壓力,這可能導(dǎo)致尖端容易磨損,即使是金剛石尖端也是如此,相比之下,只要在劃痕過程中發(fā)生氧化或晶體變形,就可以實現(xiàn)選擇性刻蝕,并且劃痕所施加的法向載荷對制造的影響極小,換句話說,通過摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻的制造對所使用的尖端造成較少的磨損,此外,用TMAH蝕刻可以產(chǎn)生高質(zhì)量的表面。在相同的刻蝕時間后,用TMAH溶液刻蝕后的硅表面比用KOH刻蝕后的硅表面光滑得多,在TMAH溶液中通過摩擦誘導(dǎo)選擇性刻蝕在Si(100)上產(chǎn)生的不同圖案,這將有助于在光學(xué)基底和微通道上產(chǎn)生形狀可控的圖案。

當采用傳統(tǒng)的SPM掃描技術(shù)進行表面光刻時,由于基底材料的塑性變形接觸壓力高,SPM尖端很容易磨損,相比之下,摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻可以制作高丘或深通道,在低載荷下實現(xiàn),減少了SPM尖的磨損,還需要注意到,摩擦誘導(dǎo)的選擇性刻蝕所產(chǎn)生的山丘高度幾乎與施加載荷無關(guān),這可以避免施加載荷差異對制造結(jié)果的影響,這是有意義的設(shè)計納米微通道,現(xiàn)場控制模式分子束外延(MBE)形成高質(zhì)量的光學(xué)結(jié)構(gòu),因此,所提出的研究可以豐富SPM基納米光刻技術(shù)的基本方面,并為生產(chǎn)各種應(yīng)用的納米結(jié)構(gòu)提供了一種替代方法。

通過原子力顯微鏡(AFM)在2 um ×2 um的面積上測量表面均方根(RMS)粗糙度為約0.10nm,使用市售TMAH溶液進行蝕刻,制作前將硅片切割成約1 cm ×1 cm的正方形,然后將樣品浸入5 wt% HF溶液中5分鐘,以蝕刻掉天然Si氧化層,用于進一步測試。

本文研究了TMAH溶液中硅表面的摩擦誘導(dǎo)選擇性蝕刻技術(shù),用于制備納米結(jié)構(gòu),本研究的主要結(jié)論總結(jié)如下:

(1)在TMAH溶液中,硅表面的機械劃痕區(qū)域可以作為抗腐蝕的掩模。

(2)摩擦誘導(dǎo)選擇性腐蝕形成的小丘依賴于溫度和腐蝕時間,選擇性腐蝕速率隨著溫度的升高而增加,而選擇性腐蝕隨著腐蝕時間的增加而消失,相比之下,在硅片上施加的垂直劃痕載荷對TMAH溶液中選擇性腐蝕產(chǎn)生的小丘高度影響很小。

(3)除了氧化硅,晶體畸變和無定形硅也能抵抗TMAH腐蝕,基于所提出的機理,通過摩擦誘導(dǎo)選擇性刻蝕可以實現(xiàn)低成本、靈活的硅表面圖形化和制作方法。

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審核編輯:符乾江

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