隨著高速光通信發(fā)展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量的精確性、穩(wěn)定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑戰(zhàn)，由此昊衡科技，發(fā)布了國產(chǎn)多功能光矢量分析儀（OCI-V）。近年昊衡科技不斷吸納市場反饋意見，專注設備創(chuàng)新升級，優(yōu)化設備性能，致力于給客戶提供更優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品。

昊衡科技作為國產(chǎn)光矢量分析儀制造商，現(xiàn)推出損耗80dB高動態(tài)范圍測試選項。

圖1.60dB動態(tài)范圍

圖2.80dB動態(tài)范圍

OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數(shù)的光矢量分析系統(tǒng)。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數(shù)。該系統(tǒng)采用獨特光路設計以及先進算法，實現(xiàn)智能校準，操作簡單，極大節(jié)省測試時間。

產(chǎn)品應用

平面波導器件、硅光器件、光纖器件、波長可調(diào)器件、放大器、濾波器

你可能想了解

偏振相關損耗PDL、偏振模色散PMD、插損IL、群延時GD、色散CD、瓊斯矩陣參數(shù)、光學相位