半導體激光器是光收發(fā)模塊核心器件，其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量，CoC老化測試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測試設備通過控制老化溫度，老化電流，老化時長等測試條件，對老化前后的激光器功率變化，閾值變化等進行評估，將產(chǎn)品設計制造中的材料缺陷，加工缺陷等及早篩選出來，提高了進入后端工序的產(chǎn)品的可靠性！

聯(lián)訊儀器CoC老化

聯(lián)訊儀器BI6201老化測試系統(tǒng)是高密度、多功能、專門針對半導體激光器芯片老化壽命驗證的測試系統(tǒng)。
系統(tǒng)采用主框架和大單層的結構，通過集成多通道驅(qū)動電源、溫度控制器、實時的數(shù)據(jù)采集功能，標準化的抽屜和靈活的夾具配置顯著降低了系統(tǒng)成本。
定制化的測試夾具，適合不同尺寸的CoC（Chip on Carrier）、CoS（Chip on Submount）以及TO-CAN等各種封裝類型的半導體激光器。

產(chǎn)品特點及優(yōu)勢
1容量大

滿系統(tǒng)共11層，每層4個操作單元（小抽屜）

單系統(tǒng)最大支持4224pcs DFB CoC同時老化，

產(chǎn)能基于客戶需求做彈性配置

2配置靈活

針對不同的產(chǎn)品封裝形式，提供靈活的夾具配置；

CoC封裝推薦魚骨型夾具，

可以支持CoC在魚骨夾具上打金線；

不同的器件類型，

只需要更換不同抽屜（或者測試夾具）

3兼容TO抽屜式老化

與CoC老化兼容，僅需要更換TO夾具和小抽屜

不同管腳定義的TO，

支持引腳定義切換支持TO前光功率監(jiān)控

4優(yōu)異的溫度控制結構

每個夾具具有獨立的加熱、控溫、監(jiān)控及散熱單元

5強大的驅(qū)動電源

整個系統(tǒng)最高支持4224路4象限SMU驅(qū)動電源

支持自動電流控制模式

自動功率控制模式

6滿足不同測試需求

支持在線監(jiān)控功率

支持完整的LIV或者EA掃描

支持Ith、DC ER分析功能

7豐富的軟件功能

老化過程中監(jiān)控每個器件的狀態(tài)信息

支持數(shù)據(jù)庫數(shù)據(jù)存儲及查詢溯源測試結果

集成快速檢查功能，

方便快捷地檢查每臺設備的信息

8完善的保護措施

無電流電壓過沖無EOS

電流和電壓閾值保護

通道間絕緣（Isolation）與靜電（ESD）保護

9規(guī)?；瘧?/strong>

廣泛應用DFB/EML/DBR激光器的老化篩選

聯(lián)訊CoC老化測試解決方案
聯(lián)訊儀器提供CoC/CoS上下料，測試以及老化完整解決方案，

適配不同測試溫度要求，不同尺寸，不同類型半導體激光器，

極大地提高了測試效率，降低了測試成本！