ZEISS蔡司工業(yè)CT機METROTOM 1500原理
ZEISS蔡司工業(yè)CT機METROTOM 1500的基本原理是當經(jīng)過準直且能量I0的射線束穿過被檢物時，根據(jù)各個透射方向上各體積元的衰減系數(shù)不同，探測器接收到的透射能量I也不同。
當X射線穿過被檢測的樣品時，不同物質(zhì)在透射方向上衰減系數(shù)不同，探測器接收到的透射能量也不同。通過一定的圖像重建算法，可以獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像。重復這一過程，又可獲得新的斷層圖像。當測得足夠多的二維斷層圖像，就可以重建出三維圖像。
ZEISS蔡司工業(yè)CT機METROTOM 1500按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像，重復上述過程又可獲得一個新的斷層圖像。當測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當單能射線束穿過非均勻物質(zhì)后，其衰減遵從比爾定律。
一幅M×N個像素組成的圖像，必須有M×N個獨立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點的μ值。當射線從各個方向透射被檢物體，通過掃描探測器可得到MXN個射線計數(shù)和值，按照一定的圖像重建算法，即可重建出MXN個μ值組成的二維ZEISS蔡司工業(yè)CT機METROTOM 1500灰度圖像。
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