哈哈哈哈哈操欧洲电影,久草网在线,亚洲久久熟女熟妇视频,麻豆精品色,久久福利在线视频,日韩中文字幕的,淫乱毛视频一区,亚洲成人一二三,中文人妻日韩精品电影

0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

MTBF測試介紹

jf_60870435 ? 來源:jf_60870435 ? 作者:jf_60870435 ? 2023-12-14 17:29 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

MTBF測試是什么試驗?

MTBF,即平均故障間隔時間,是衡量一個產(chǎn)品(尤其是電器產(chǎn)品)的可靠性指標。

通過壽命試驗,可以了解產(chǎn)品的壽命特征、失效規(guī)律、失效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種失效模式。

如結合失效分析,可進一步弄清導致產(chǎn)品失效的主要失效機理,作為可靠性設計、可靠性預測、改進新產(chǎn)品質(zhì)量和確定合理的篩選、例行(批量保證)試驗條件等的依據(jù)。

如果為了縮短試驗時間可在不改變失效機理的條件下用加大應力的方法進行試驗,這就是加速壽命試驗。

通過壽命試驗可以對產(chǎn)品的可靠性水平進行評價,并通過質(zhì)量反饋來提高新產(chǎn)品可靠性水平。

wKgZomV6yxKAIlKNAADrixmD4uQ831.jpg


壽命試驗(MTBF)測試目的

1、對于高頻度故障零件的重點對策及延長零件壽命的技術改良依據(jù)。
2、零件壽命周期的推定及最合適修理計劃的研究。
3、有關點檢對象、項目的先定與點檢基準的設定、改良。
4、設定備品、備件基準。機械、電氣零件的各項常備項目及基本庫存數(shù)量應由MTBF的記錄分析來判斷,使其庫存達到最經(jīng)濟的狀況。

MTBF的三種測試方法

MTBF測試計算方法介紹

MTBF的計算方式主要有三種:預計計算法、實驗試驗法、失效統(tǒng)計法(實測法)。

(1)預計計算方法為根據(jù)產(chǎn)品故障的一般原因以及影響故障率的因素預測計算產(chǎn)品的MTBF。一般該方法都是根據(jù)相關的標準計算出來的。目前最通用的預測計算法為MIL-HDBK-217F,對應國內(nèi)版本為GJB299B。由于影響產(chǎn)品可靠性的因素很多,該方法的局限性很大。

(2)實驗試驗法為通過改變影響產(chǎn)品故障速率的因素加快產(chǎn)品失效進行實驗測試。再根據(jù)測試值反推出正常工作情況下的MTBF。該方法相對預計計算的方式更符合實際值,但是工作量相應的也增加了很多,實驗周期比較長。

(3)失效統(tǒng)計法值根據(jù)產(chǎn)品的實際使用情況統(tǒng)計出產(chǎn)品的MTBF。理論上該方法為真實的MTBF計算方法。由于統(tǒng)計方法的和統(tǒng)計數(shù)據(jù)的遺漏,該方法也會存在一定的誤差。

(1)MTBF預計法:

?可靠性預計是對產(chǎn)品或者系統(tǒng)的可靠性進行定量的估計,推測其可能達到的可靠性水平,是實施可靠性工程的基礎

?可靠性預計是依據(jù)組成系統(tǒng)的元器件、零部件的可靠性來估計的,是一個自下而上、由局部到整體、由小到大的一種綜合過程

?可靠性預計適用于產(chǎn)品設計階段

可靠性預計法的標準:

標準號 標準名稱 說明
MIL-HDBK-217 電子設備可靠性預計手冊 美國國防部可靠性分析中心Rome實驗室提出并成為行業(yè)標準
GJB/Z299B 電子設備可靠性預計手冊 我國軍用標準
Bellcore SR-332 電子設備可靠性預計程序 AT&TBell實驗室提出并成為商用電子產(chǎn)品MTBF值計算的行業(yè)標準

可靠性預計法的步驟:

?客戶提供產(chǎn)品BOM表

?依據(jù)軟件查詢各無器件失效率

?統(tǒng)計總失效率

?計算預計MTBF


(2)MTBF實驗試驗法:

試驗方法主要有:全壽命試驗、序貫截尾試驗、定時截尾試驗或定數(shù)截尾試驗。

1)全壽命試驗

全壽命試驗要求所有樣品都在試驗中最終都失效,只需要采用簡單的算術平均值就可以計算出MTBF。

2)序貫截尾試驗

針對試驗對象的特點,在一批數(shù)量為N的產(chǎn)品中,任意抽取數(shù)量為n的樣品,觀察發(fā)生r個故障出現(xiàn)時的時間,并計算總的測試時間。發(fā)生一次故障,就進行一次判決。

3)定數(shù)、定時截尾試驗

定時截尾試驗指試驗到規(guī)定的時間終止。

定數(shù)截尾試驗指試驗到出現(xiàn)規(guī)定的故障數(shù)或失效數(shù)時而終止。

可靠性試驗法的標準:

標準號 標準名稱
GB/T 9813.4-2017 計算機通用規(guī)范第4部分:工業(yè)應用微型計算機
GB/T 5080.7-1986 設備可靠性試驗恒定失效率假設的有效性檢驗

可靠性試驗法的步驟:

?確定MTBF下限值

?確定試驗方案

?確定樣品信息:什么樣品,尺寸,重量,可提供的樣品數(shù)量

?確定可接受失效樣品數(shù),推薦可接受失效樣品數(shù)為0

?計算試驗時間

?確認試驗條件:溫度,電壓,功能檢查

?進行試驗觀察失效數(shù)

MTBF加速

?常規(guī)試驗耗時較久,且需投入大量的金錢,而產(chǎn)品可靠度信息又不能及時獲得并加以改善

?可在實驗室里以加速壽命試驗的方法,在可接受的試驗時間里評估產(chǎn)品的使用壽命

?是在物理與時間上,加速產(chǎn)品的劣化,以較短的時間試驗來推定產(chǎn)品在正常使用狀態(tài)的壽命或失效率,但基本條件是不能破壞原有設計特性

?電子產(chǎn)品的加速因子主要是溫度,溫度加濕度,電壓等

MTBF加速法試驗步驟:

?確定MTBF下限值

?確定可信度系數(shù) A=0.5*χ2(1-a,2(r+1))

?依據(jù)具體的測試條件(溫度,濕度,電壓)計算加速因子

?確認客戶能提供的樣品數(shù)量

?計算試驗時間

(3)失效統(tǒng)計法(實測法)

產(chǎn)品在完成設計改進、準備批量生產(chǎn)前,原則上需要通過部分樣機進行試驗室試驗來評價產(chǎn)品的MTBF,再確定是否批量生產(chǎn)。

而實際上,由于新產(chǎn)品在推出時間上的需要,不可能進行長時間的MTBF試驗。

對于民用產(chǎn)品來說。試驗室試驗由于時間和費用的關系根本無法操作;

對于部分軍用產(chǎn)品來說,由于生產(chǎn)的數(shù)量極有限,不可能抽取過多的試驗樣品進行MTBF試驗,這樣通過極少樣品評價出的MTBF可信度是個大問題。

同時,由于實驗室試驗條件的單一性和產(chǎn)品在外場使用條件的多樣性,因此,試驗室試驗的真實性與產(chǎn)品的外場使用會有較大的差異。這時就需要通過現(xiàn)場失效統(tǒng)計的數(shù)據(jù)來了解產(chǎn)品真實的MTBF當然這種方法帶來的時間滯后性是無法克服的,但對于驗證實驗室的試驗數(shù)據(jù)和連續(xù)生產(chǎn)同類產(chǎn)品的生產(chǎn)廠家還是有價值的。

計算MTBF時要注意失效分布在計算中的意義:

1)產(chǎn)品的失效分布不同時,MTBF是有較大差異的,因此,失效分布的形態(tài)對MTBF的計算有很大的影響。

2)對設計、制造良好的整機產(chǎn)品來說失效分布多為指數(shù)分布。也就是常說的偶然失效的情形。如果不廠解產(chǎn)品的失效分布形態(tài),可以先內(nèi)接采用指數(shù)分布的公式計算。

3)正態(tài)分布常用來表示磨損失效的情形,通常設計、制造不良的產(chǎn)品在較短的時間內(nèi)就會進入磨損損耗期,如果在試驗中發(fā)現(xiàn)失效分布呈現(xiàn)的是正態(tài)分布,且壽命時間較短時要注意產(chǎn)品本身存在的問題。

【以上信息由艾博檢測整理發(fā)布,如有出入請及時指正,如有引用請注明出處,歡迎一起討論,我們一直在關注其發(fā)展!專注:CCC/SRRC/CTA/運營商入庫】


審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內(nèi)容侵權或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 測試
    +關注

    關注

    9

    文章

    6387

    瀏覽量

    131654
  • MTBF
    +關注

    關注

    1

    文章

    31

    瀏覽量

    14077
  • 可靠性
    +關注

    關注

    4

    文章

    282

    瀏覽量

    27634
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    MTBF測試對電子產(chǎn)品的重要性

    MTBF 不只是一個?“小時數(shù)”,它是產(chǎn)品可靠性的身份證,直接決定能不能賣、好不好賣、賣完穩(wěn)不穩(wěn)。下面用最直白的邏輯講清楚它為什么重要。
    的頭像 發(fā)表于 02-25 11:28 ?201次閱讀
    <b class='flag-5'>MTBF</b><b class='flag-5'>測試</b>對電子產(chǎn)品的重要性

    半導體通用測試文件標準STDF介紹

    對于半導體測試特別是集成了復雜IP的芯片,要完整記錄各項DC,AC,功能性測試等等生成的龐大數(shù)據(jù),還要和芯片的生產(chǎn)批次,生成時間,測試機臺等信息組合起來,那不能無序簡單地堆砌成一個文件了事。這樣會
    的頭像 發(fā)表于 02-06 10:02 ?453次閱讀
    半導體通用<b class='flag-5'>測試</b>文件標準STDF<b class='flag-5'>介紹</b>

    半導體測試制程介紹

    半導體產(chǎn)品的附加價值高、制造成本高,且產(chǎn)品的性能對于日后其用于最終電子商品的功能有關鍵性的影響。因此,在半導體的生產(chǎn)過程中的每個階段,對于所生產(chǎn)的半導體IC產(chǎn)品,都有著層層的測試及檢驗來為產(chǎn)品的質(zhì)量
    的頭像 發(fā)表于 01-16 10:04 ?556次閱讀
    半導體<b class='flag-5'>測試</b>制程<b class='flag-5'>介紹</b>

    SILEX希來科SX-PCEBE 評估測試介紹

    SILEX希來科SX-PCEBE 評估測試介紹
    的頭像 發(fā)表于 12-14 15:14 ?1376次閱讀
    SILEX希來科SX-PCEBE 評估<b class='flag-5'>測試</b>版<b class='flag-5'>介紹</b>

    ATE自動測試系統(tǒng)能兼容哪些類型的電源測試?

    在當今電子設備無處不在的時代,電源的質(zhì)量和可靠性直接影響著終端產(chǎn)品的性能與壽命。而確保電源質(zhì)量的關鍵工具——ATE自動測試系統(tǒng),已成為電源設計和制造過程中不可或缺的一環(huán)。本文將和大家介紹一下源儀電子的ATE測試系統(tǒng)能夠兼容的電源
    的頭像 發(fā)表于 10-29 14:42 ?840次閱讀
    ATE自動<b class='flag-5'>測試</b>系統(tǒng)能兼容哪些類型的電源<b class='flag-5'>測試</b>?

    診斷路由功能及測試方案介紹

    ,則要求網(wǎng)關具備強大的S2S(SignaltoService)路由能力。本文將重點探討網(wǎng)關的診斷路由功能,并分享其性能測試方案。網(wǎng)關功能介紹依據(jù)在整車網(wǎng)絡中的核心
    的頭像 發(fā)表于 09-24 10:04 ?3519次閱讀
    診斷路由功能及<b class='flag-5'>測試</b>方案<b class='flag-5'>介紹</b>

    AppTest邀請測試測試流程

    相比AppGallery邀請測試,AppTest邀請測試具備以下全新能力: 若您同時發(fā)布了多個測試版本,AppTest支持測試版本自動升級到最新的
    發(fā)表于 09-11 17:00

    吉事勵相關逆變器測試設備介紹

    吉事勵電源測試系統(tǒng)以 模塊化設計、高精度控制及能量回饋技術 為核心,為新能源、電動汽車、工業(yè)電源等領域提供定制測試解決方案。以下是吉事勵關于逆變器測試設備的整合介紹: ? 一、 模塊化
    的頭像 發(fā)表于 07-30 17:58 ?1262次閱讀

    UL498溫升測試介紹

    UL498是一項針對電氣連接器和插座的安全標準,涵蓋了插頭、插座、延長線和類似設備的設計、性能和安全要求。其中,溫升測試是UL498標準中的一個重要部分,目的是確保設備在使用過程中不會因過熱而導致
    的頭像 發(fā)表于 07-03 11:33 ?1373次閱讀
    UL498溫升<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>介紹</b>

    半導體芯片的可靠性測試都有哪些測試項目?——納米軟件

    本文主要介紹半導體芯片的可靠性測試項目
    的頭像 發(fā)表于 06-20 09:28 ?1597次閱讀
    半導體芯片的可靠性<b class='flag-5'>測試</b>都有哪些<b class='flag-5'>測試</b>項目?——納米軟件

    【正點原子STM32MP257開發(fā)板試用】介紹、上電測試、系統(tǒng)連接

    【正點原子STM32MP257開發(fā)板試用】介紹、上電測試、系統(tǒng)連接 本文介紹了正點原子 STM32MP257 開發(fā)板開箱與外觀展示、上電應用測試、板載資源及特點
    發(fā)表于 06-13 17:28

    ESD技術文檔:芯片級ESD與系統(tǒng)級ESD測試標準介紹和差異分析

    ESD技術文檔:芯片級ESD與系統(tǒng)級ESD測試標準介紹和差異分析
    的頭像 發(fā)表于 05-15 14:25 ?4909次閱讀
    ESD技術文檔:芯片級ESD與系統(tǒng)級ESD<b class='flag-5'>測試</b>標準<b class='flag-5'>介紹</b>和差異分析

    半導體測試可靠性測試設備

    在半導體產(chǎn)業(yè)中,可靠性測試設備如同產(chǎn)品質(zhì)量的 “守門員”,通過模擬各類嚴苛環(huán)境,對半導體器件的長期穩(wěn)定性和可靠性進行評估,確保其在實際使用中能穩(wěn)定運行。以下為你詳細介紹常見的半導體測試可靠性
    的頭像 發(fā)表于 05-15 09:43 ?1491次閱讀
    半導體<b class='flag-5'>測試</b>可靠性<b class='flag-5'>測試</b>設備

    RCD測試全解析:原理、方法、問題與發(fā)展

    本文詳細介紹了剩余電流動作保護器(RCD)的概述、測試原理與標準、測試方法、常見問題與解決方案、高級測試技術、現(xiàn)場測試注意事項以及未來發(fā)展趨
    的頭像 發(fā)表于 05-14 14:24 ?5173次閱讀

    QDAT非信令測試介紹

    高通WIFI6的IPQ系列芯片非信令測試常用的測試方法有兩種:QRCT(射頻調(diào)試工具)、QPSR(射頻校準工具)。Chrent一、QPSR(射頻校準工具)非信令測試首先設置一個校準頻段,我這里設置
    的頭像 發(fā)表于 05-07 17:32 ?1940次閱讀
    QDAT非信令<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>介紹</b>
    综艺| 虎林市| 肇庆市| 长寿区| 邯郸市| 和顺县| 岳普湖县| 永平县| 咸阳市| 潜江市| 榆树市| 南开区| 黄大仙区| 新沂市| 额济纳旗| 游戏| 方山县| 银川市| 平罗县| 长丰县| 宝坻区| 绿春县| 报价| 乐业县| 桃江县| 榆林市| 阜南县| 临猗县| 广汉市| 西城区| 砀山县| 平乐县| 信丰县| 健康| 太湖县| 三原县| 抚宁县| 南京市| 靖边县| 博乐市| 湖州市|