知用CYBERTEK近場(chǎng)探頭EM5030E的特征及其應(yīng)用
EM5030/EM5030LF 系列探頭組包含了 7 個(gè)專(zhuān)門(mén)用來(lái)測(cè)試磁場(chǎng)(H)探頭，它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾(E)，主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030 的頻率范圍是 30MHz-3GHz，共4 種探頭形狀;EM5030LF 的頻率范圍是 9kHz-50MHz，共 3 種探頭形狀。
探頭通過(guò) 50? 的電纜直接與頻譜儀或者示波器連接。當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾，能夠檢測(cè)模塊之間的耦合通道以及評(píng)估系統(tǒng)內(nèi)信號(hào)切換速率、RF 電壓等。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí)，可以配合EM5020A(20dB 增益)或者EM5020B(30dB增益)前置射頻射頻放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。
應(yīng)用：
EMI 輻射干擾源定位
電磁場(chǎng)強(qiáng)度檢測(cè)
使用示意圖：
審核編輯 黃宇
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如何使用和選擇近場(chǎng)探頭?
近場(chǎng)電磁干擾（EMI）測(cè)試是電磁兼容性（EMC）輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試的關(guān)鍵部分。EMI測(cè)試機(jī)構(gòu)利用經(jīng)過(guò)精確校準(zhǔn)的天線(xiàn)和EMI接收機(jī)，在3米或10米的距離上對(duì)設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，這被稱(chēng)為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。電磁場(chǎng)的特性
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