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探索 onsemi FQAF11N90C N 溝道 MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

lhl545545 ? 2026-03-29 14:55 ? 次閱讀
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探索 onsemi FQAF11N90C N 溝道 MOSFET:特性、參數(shù)與應(yīng)用

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET 作為關(guān)鍵的功率開(kāi)關(guān)器件,其性能直接影響著電源、照明等眾多應(yīng)用的效率和穩(wěn)定性。今天,我們就來(lái)深入了解 onsemi 推出的 FQAF11N90C N 溝道增強(qiáng)型功率 MOSFET。

文件下載:FQAF11N90C-D.pdf

產(chǎn)品概述

FQAF11N90C 采用 onsemi 專有的平面條紋和 DMOS 技術(shù)制造。這種先進(jìn)的 MOSFET 技術(shù)經(jīng)過(guò)特別優(yōu)化,旨在降低導(dǎo)通電阻,同時(shí)提供卓越的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該器件適用于開(kāi)關(guān)模式電源、有源功率因數(shù)校正(PFC)以及電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用。

關(guān)鍵特性

電氣性能

  • 額定參數(shù):具備 7.0 A 的連續(xù)漏極電流和 900 V 的漏源電壓,在 VGS = 10 V、ID = 3.5 A 時(shí),最大導(dǎo)通電阻 RDS(on) 為 1.1Ω。
  • 低柵極電荷:典型柵極電荷僅為 60 nC,有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。
  • 低 Crss:典型反向傳輸電容 Crss 為 23 pF,可減少米勒效應(yīng),提升開(kāi)關(guān)性能。
  • 雪崩測(cè)試:經(jīng)過(guò) 100% 雪崩測(cè)試,保證了器件在雪崩狀態(tài)下的可靠性。

熱特性

  • 熱阻:結(jié)到外殼的最大熱阻 RθJC 為 1.04°C/W,結(jié)到環(huán)境的最大熱阻 RθJA 為 40°C/W,良好的熱性能有助于器件在高溫環(huán)境下穩(wěn)定工作。

絕對(duì)最大額定值

在使用 FQAF11N90C 時(shí),必須嚴(yán)格遵守其絕對(duì)最大額定值,以避免器件損壞。以下是一些關(guān)鍵的額定參數(shù): 參數(shù) 數(shù)值 單位
漏源電壓 VDSS 900 V
連續(xù)漏極電流 ID(TC = 25°C) 7.0 A
連續(xù)漏極電流 ID(TC = 100°C) 4.4 A
脈沖漏極電流 IDM 28.0 A
柵源電壓 VGSS ±30 V
單脈沖雪崩能量 EAS 960 mJ
雪崩電流 IAR 7.0 A
重復(fù)雪崩能量 EAR 12 mJ
峰值二極管恢復(fù) dv/dt 4.0 V/ns
功率耗散 PD(TC = 25°C) 120 W
功率耗散降額系數(shù) 0.96 W/°C
工作和存儲(chǔ)溫度范圍 TJ, TSTG -55 至 +150 °C
焊接時(shí)引腳最大溫度 TL 300 °C

需要注意的是,超過(guò)這些額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 BVDSS:在 VGS = 0 V、ID = 250 μA 時(shí),為 900 V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù) ΔBVDSS/ΔTJ:在 ID = 250 μA 時(shí),參考 25°C 為 1.00 V/°C。
  • 零柵壓漏極電流 IDSS:在 VDS = 900 V、VGS = 0 V 時(shí)為 10 μA,在 VDS = 720 V、TC = 125°C 時(shí)為 100 μA。
  • 柵體正向和反向泄漏電流 IGSSF 和 IGSSR:分別為 100 nA 和 -100 nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓 VGS(th):在 VDS = VGS、ID = 250 μA 時(shí),范圍為 3.0 至 5.0 V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 RDS(on):在 VGS = 10 V、ID = 3.5 A 時(shí),范圍為 0.91 至 1.1Ω。
  • 正向跨導(dǎo) gFs:在 VDS = 50 V、ID = 3.5 A 時(shí)給出相關(guān)參數(shù)。

動(dòng)態(tài)特性

  • 輸入電容 Ciss:在 VDS = 25 V、VGS = 0 V、f = 1 MHz 時(shí),范圍為 2530 至 3290 pF。
  • 輸出電容 Coss:范圍為 215 至 280 pF。
  • 反向傳輸電容 Crss:范圍為 23 至 30 pF。

開(kāi)關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間 td(on):在 VDD = 450 V、ID = 11.0 A 時(shí),范圍為 60 至 130 ns。
  • 導(dǎo)通上升時(shí)間 tr:在 RG = 25Ω 時(shí),范圍為 130 至 270 ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間 td(off):范圍為 130 至 270 ns。
  • 關(guān)斷下降時(shí)間 tf:范圍為 85 至 180 ns。
  • 總柵極電荷 Qg:在 VDS = 720 V、ID = 11.0 A 時(shí),范圍為 60 至 80 nC。
  • 柵源電荷 Qgs:在 VGS = 10 V 時(shí)為 13 nC。
  • 柵漏電荷 Qgd:為 25 nC。

漏源二極管特性

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 IS:為 7.0 A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流 ISM:為 28.0 A。
  • 漏源二極管正向電壓 VSD:在 VGS = 0 V、IS = 7.0 A 時(shí)為 1.4 V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間 trr:在 VGS = 0 V、IS = 11.0 A、dIF/dt = 100 A/μs 時(shí)為 1000 ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 Qrr:為 17.0 μC。

典型特性曲線

文檔中提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流隨外殼溫度的變化以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師更直觀地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。

封裝與訂購(gòu)信息

FQAF11N90C 采用 TO - 3PF(無(wú)鉛)封裝,每管裝 30 個(gè)器件。

總結(jié)

onsemi 的 FQAF11N90C N 溝道 MOSFET 憑借其低導(dǎo)通電阻、卓越的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度,在開(kāi)關(guān)模式電源、PFC 和電子燈鎮(zhèn)流器等應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢(shì)。工程師在設(shè)計(jì)時(shí),應(yīng)充分考慮其各項(xiàng)參數(shù)和特性,確保器件在合適的工作條件下發(fā)揮最佳性能。同時(shí),要嚴(yán)格遵守絕對(duì)最大額定值,以保障器件的可靠性和使用壽命。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過(guò)類似 MOSFET 的使用問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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