onsemi FDMC6675BZ P溝道MOSFET:高性能負(fù)載開(kāi)關(guān)的理想之選
在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為一種關(guān)鍵的半導(dǎo)體器件,廣泛應(yīng)用于各種電路中。今天,我們來(lái)深入了解一下安森美(onsemi)的FDMC6675BZ P溝道MOSFET,看看它在負(fù)載開(kāi)關(guān)應(yīng)用中能帶來(lái)怎樣的優(yōu)勢(shì)。
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一、產(chǎn)品概述
FDMC6675BZ專為最小化負(fù)載開(kāi)關(guān)應(yīng)用中的損耗而設(shè)計(jì)。它結(jié)合了先進(jìn)的硅技術(shù)和封裝技術(shù),提供了極低的導(dǎo)通電阻(RDS(on))和靜電放電(ESD)保護(hù)。這種設(shè)計(jì)使得它在筆記本電腦、服務(wù)器等設(shè)備的負(fù)載開(kāi)關(guān)以及筆記本電池組電源管理等典型應(yīng)用中表現(xiàn)出色。
二、產(chǎn)品特性
1. ESD保護(hù)
該器件具有典型8 kV的人體模型(HBM)ESD保護(hù)等級(jí),能有效防止靜電對(duì)器件的損害,提高產(chǎn)品的可靠性。這在實(shí)際應(yīng)用中非常重要,因?yàn)殪o電可能會(huì)導(dǎo)致器件故障,影響設(shè)備的正常運(yùn)行。
2. 擴(kuò)展的VGSS范圍
其擴(kuò)展的VGSS范圍(?25 V)適用于電池應(yīng)用,能夠滿足不同電池電壓的需求,為電池供電的設(shè)備提供更穩(wěn)定的性能。
3. 高性能溝槽技術(shù)
采用高性能溝槽技術(shù),實(shí)現(xiàn)了極低的RDS(on)。在VGS = ?10 V,ID = ?9.5 A時(shí),最大RDS(on)為14.4 mΩ;在VGS = ?4.5 V,ID = ?6.9 A時(shí),最大RDS(on)為27.0 mΩ。低RDS(on)意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下的功率損耗更小,能提高電路的效率。
4. 高功率和電流處理能力
具有高功率和電流處理能力,連續(xù)漏極電流(ID)在TC = 25 °C時(shí),封裝限制為?20 A,硅限制為?40 A,脈沖電流可達(dá)?32 A。這使得它能夠應(yīng)對(duì)較大的負(fù)載電流,適用于高功率應(yīng)用。
5. 環(huán)保特性
這些器件是無(wú)鉛、無(wú)鹵素/無(wú)溴化阻燃劑(BFR)的,并且符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),體現(xiàn)了環(huán)保理念,滿足了現(xiàn)代電子設(shè)備對(duì)環(huán)保的要求。
三、電氣特性
1. 最大額定值
| 符號(hào) | 參數(shù) | 額定值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| VDS | 漏源電壓 | -30 | V |
| VGS | 柵源電壓 | ±25 | V |
| ID | 漏極電流 - 連續(xù)(封裝限制)(TC = 25 °C) | -20 | A |
| ID | 漏極電流 - 連續(xù)(硅限制)(TC = 25 °C) | -40 | A |
| ID | 漏極電流 - 連續(xù)(TA = 25 °C) | -9.5 | A |
| ID | 漏極電流 - 脈沖 | -32 | A |
| PD | 功率耗散(TC = 25 °C) | 36 | W |
| PD | 功率耗散(TA = 25 °C) | 2.3 | W |
| TJ, TSTG | 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 | -55 至 +150 | °C |
2. 靜態(tài)特性
- 關(guān)斷特性:漏源擊穿電壓(BVDSS)為 -30 V,零柵壓漏電流在不同條件下有不同的值,如在VDS = -24 V,VGS = 0 V時(shí),TJ = 25 °C時(shí)為 -1 μA,TJ = 125 °C時(shí)也為 -1 μA。
- 導(dǎo)通特性:柵源閾值電壓(VGS(th))和溫度系數(shù)(AVGS(th))等參數(shù)也有相應(yīng)規(guī)定,RDS(on)在不同的VGS和ID條件下有不同的值,如前面提到的在VGS = -10 V,ID = -9.5 A時(shí)為14.4 mΩ。
3. 動(dòng)態(tài)特性
- 電容特性:輸入電容(Ciss)在VDS = -15 V,VGS = 0 V,f = 1 MHz時(shí),典型值為2154 pF,最大值為2865 pF;輸出電容(Coss)典型值為392 pF,最大值為525 pF;反向傳輸電容(Crss)典型值為349 pF,最大值為525 pF。
- 開(kāi)關(guān)特性:開(kāi)通時(shí)間(tr)、關(guān)斷延遲時(shí)間、關(guān)斷時(shí)間(tf)以及總柵極電荷(Qg)等參數(shù)都有明確的測(cè)試條件和數(shù)值范圍。例如,在VDD = -15 V,ID = -9.5 A,VGS = -10 V,RGEN = 6Ω時(shí),tr為10 - 20 ns。
4. 漏源二極管特性
漏源二極管的正向電壓(VSD)在不同的電流條件下有不同的值,反向恢復(fù)時(shí)間(trr)在IF = -9.5 A,dl / dt = 100 A / μs時(shí)為38 ns,反向恢復(fù)電荷(Qrr)為27 nC。
四、典型特性曲線
文檔中給出了多個(gè)典型特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系、導(dǎo)通電阻與柵源電壓的關(guān)系、傳輸特性、源漏二極管正向電壓與源電流的關(guān)系、柵極電荷特性、電容與漏源電壓的關(guān)系、雪崩電流與雪崩時(shí)間的關(guān)系、最大連續(xù)漏極電流與殼溫的關(guān)系、正向偏置安全工作區(qū)、柵極泄漏電流與柵源電壓的關(guān)系、單脈沖最大功率耗散以及結(jié)到環(huán)境的瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn),對(duì)于工程師進(jìn)行電路設(shè)計(jì)和性能評(píng)估非常有幫助。
五、封裝和訂購(gòu)信息
FDMC6675BZ采用WDFN8 3.3x3.3, 0.65P封裝,13英寸卷軸,12毫米膠帶寬度,每卷3000個(gè)。在訂購(gòu)時(shí),可參考數(shù)據(jù)手冊(cè)第2頁(yè)的詳細(xì)訂購(gòu)和運(yùn)輸信息。同時(shí),關(guān)于膠帶和卷軸的規(guī)格,可參考安森美的Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
六、總結(jié)
FDMC6675BZ P溝道MOSFET以其低RDS(on)、高ESD保護(hù)、高功率和電流處理能力等特性,成為負(fù)載開(kāi)關(guān)應(yīng)用的理想選擇。在設(shè)計(jì)筆記本電腦、服務(wù)器等設(shè)備的負(fù)載開(kāi)關(guān)電路以及筆記本電池組電源管理電路時(shí),工程師可以充分利用其優(yōu)勢(shì),提高電路的性能和可靠性。你在實(shí)際應(yīng)用中是否使用過(guò)類似的MOSFET呢?遇到過(guò)哪些問(wèn)題?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。
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負(fù)載開(kāi)關(guān)
+關(guān)注
關(guān)注
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