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深入解析 onsemi FDMA3023PZ:一款適用于超便攜設備的高性能 MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-17 13:45 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi FDMA3023PZ:一款適用于超便攜設備的高性能 MOSFET

在電子設備小型化、高性能化的今天,對于電子工程師而言,選擇合適的 MOSFET 至關重要。今天我們就來深入探討 onsemi 的 FDMA3023PZ 這款雙 P 溝道 MOSFET,看看它在超便攜應用中能帶來怎樣的表現(xiàn)。

文件下載:FDMA3023PZ-D.pdf

產(chǎn)品概述

FDMA3023PZ 專為手機和其他超便攜應用中的電池充電開關設計,采用單封裝解決方案。它集成了兩個獨立的 P 溝道 MOSFET,具備低導通電阻特性,可有效降低傳導損耗。并且在典型的共源配置下,能夠?qū)崿F(xiàn)雙向電流流動。其采用的 MicroFET 2X2 封裝,在較小的物理尺寸下提供了出色的熱性能,非常適合線性模式應用。

關鍵特性

低導通電阻

FDMA3023PZ 在不同的柵源電壓($V{GS}$)和漏極電流($I{D}$)條件下,展現(xiàn)出了低導通電阻的特性:

  • 在 $V{GS} = -4.5 V$,$I{D} = -2.9 A$ 時,最大 $R_{DS(on)} = 90 mΩ$;
  • 在 $V{GS} = -2.5 V$,$I{D} = -2.6 A$ 時,最大 $R_{DS(on)} = 130 mΩ$;
  • 在 $V{GS} = -1.8 V$,$I{D} = -1.7 A$ 時,最大 $R_{DS(on)} = 170 mΩ$;
  • 在 $V{GS} = -1.5 V$,$I{D} = -1.0 A$ 時,最大 $R_{DS(on)} = 240 mΩ$。

這種低導通電阻特性有助于減少功率損耗,提高系統(tǒng)效率,對于電池供電的超便攜設備來說尤為重要。你在設計超便攜設備時,是否會優(yōu)先考慮低導通電阻的 MOSFET 呢?

低外形封裝

該器件采用了 MicroFET? 2 × 2 mm 的新封裝,最大高度僅為 0.8 mm,非常適合對空間要求苛刻的應用。這種低外形封裝不僅節(jié)省了電路板空間,還能降低設備的整體厚度。

ESD 保護

具備 HBM ESD 保護大于 2 kV,能有效防止靜電對器件造成損壞,提高了器件的可靠性和穩(wěn)定性。在實際應用中,靜電問題常常會對電子設備造成損害,你在設計中是如何應對靜電問題的呢?

環(huán)保特性

FDMA3023PZ 是無鉛、無鹵化物的,并且符合 RoHS 標準,不含有鹵化化合物和氧化銻,符合環(huán)保要求。

絕對最大額定值

在使用 FDMA3023PZ 時,需要注意其絕對最大額定值,以確保器件的正常工作和可靠性。以下是一些關鍵的絕對最大額定值: 符號 參數(shù) 單位
$V_{DS}$ 漏源電壓 -30 V
$V_{GS}$ 柵源電壓 ± 8 V
$I_{D}$ 漏極電流 - 連續(xù)(注 1a) - 脈沖 -2.9 - 6 A
$P_{D}$ 功率耗散 $T_{A} = 25 °C$(注 1a) 1.4 W
功率耗散 $T_{A} = 25 °C$(注 1b) 0.7
$T{J}, T{stg}$ 工作和存儲結(jié)溫范圍 -55 至 +150 °C

超過這些額定值可能會損壞器件,影響其功能和可靠性。你在設計電路時,是否會仔細考慮這些額定值呢?

熱特性

熱特性對于 MOSFET 的性能和可靠性至關重要。FDMA3023PZ 的熱阻會受到封裝方式和工作模式的影響: 符號 參數(shù) 單位
$R_{θJA}$ 單操作時,結(jié)到環(huán)境的熱阻(注 1a) 86 °C/W
$R_{θJA}$ 單操作時,結(jié)到環(huán)境的熱阻(注 1b) 173 °C/W
$R_{θJA}$ 雙操作時,結(jié)到環(huán)境的熱阻(注 1c) 69 °C/W
$R_{θJA}$ 雙操作時,結(jié)到環(huán)境的熱阻(注 1d) 151 °C/W

在實際應用中,需要根據(jù)具體的工作條件和散熱要求來選擇合適的封裝方式和散熱措施。你在設計散熱方案時,會考慮哪些因素呢?

電氣特性

關斷特性

  • 漏源擊穿電壓($BVDSS$):在 $I{D} = -250 μA$,$V{GS} = 0 V$ 時,為 -30 V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù)($BVDSS TJ$):在 $I_{D} = -250 μA$,參考溫度為 25°C 時,為 -24 mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流($IDSS$):在 $V{DS} = -24 V$,$V{GS} = 0 V$ 時,為 -1 A;在 $V{GS} = ±8 V$,$V{DS} = 0 V$ 時,為 ±100 nA。
  • 柵源泄漏電流($IGSS$):具體數(shù)值在文檔中有相關說明。

導通特性

  • 柵源閾值電壓($VGS(th)$):在 $V{GS} = V{DS}$,$I_{D} = -250 μA$ 時,范圍為 -0.4 至 -1.0 V。
  • 柵源閾值電壓溫度系數(shù)($Delta V{GS}(th) / Delta T{J}$):在 $I_{D} = -250 μA$,參考溫度為 25°C 時,為 3 mV/°C。
  • 靜態(tài)漏源導通電阻($RDS(on)$):在不同的 $V{GS}$ 和 $I{D}$ 條件下有不同的值,具體如前面所述。
  • 正向跨導($gFs$):在 $V{DS} = -5 V$,$I{D} = -2.9 A$ 時,為 10 S。

動態(tài)特性

  • 輸入電容($Ciss$):在 $V{DS} = -15 V$,$V{GS} = 0 V$,$f = 1 MHz$ 時,范圍為 400 至 530 pF。
  • 輸出電容($Coss$):范圍為 55 至 70 pF。
  • 反向傳輸電容($Crss$):范圍為 45 至 65 pF。

開關特性

  • 導通延遲時間($td(on)$):在 $V{DD} = -15 V$,$I{D} = -1.0 A$,$V{GS} = -4.5 V$,$R{GEN} = 6 Ω$ 時,范圍為 5 至 10 ns。
  • 上升時間($tr$):范圍為 4 至 10 ns。
  • 關斷延遲時間($td(off)$):范圍為 62 至 100 ns。
  • 下降時間($tf$):范圍為 18 至 33 ns。
  • 總柵極電荷($QgTOT$):在 $V{DD} = -15 V$,$I{D} = -2.9 A$,$V_{GS} = -4.5 V$ 時,范圍為 7.9 至 11 nC。

漏源二極管特性和最大額定值

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流($Is$):為 -1.1 A。
  • 源漏二極管正向電壓($VSD$):在 $V{GS} = 0 V$,$I{S} = -1.1 A$ 時,范圍為 -0.8 至 -1.2 V。
  • 反向恢復時間($trr$):在 $I_{F} = -2.9 A$,$di / dt = 100 A / μs$ 時,范圍為 18 至 33 ns。
  • 反向恢復電荷($Qm$):范圍為 6.6 至 13 nC。

這些電氣特性為工程師在設計電路時提供了重要的參考依據(jù)。你在設計電路時,會如何利用這些電氣特性來優(yōu)化電路性能呢?

典型特性

文檔中還給出了 FDMA3023PZ 的典型特性曲線,包括導通電阻與漏極電流、柵源電壓、結(jié)溫的關系,電容與漏源電壓的關系,開關特性曲線等。這些典型特性曲線可以幫助工程師更好地了解器件的性能,在不同的工作條件下進行合理的設計。你在實際設計中,是否會參考這些典型特性曲線呢?

機械封裝

FDMA3023PZ 采用 WDFN6 2x2, 0.65P 封裝,文檔中給出了詳細的封裝尺寸和推薦的焊盤圖案。在進行 PCB 設計時,需要根據(jù)這些尺寸和圖案進行合理的布局,以確保器件的正常安裝和電氣連接。你在進行 PCB 設計時,對于封裝尺寸和焊盤圖案的考慮有哪些經(jīng)驗呢?

綜上所述,onsemi 的 FDMA3023PZ 是一款性能出色的雙 P 溝道 MOSFET,適用于超便攜設備的電池充電開關等應用。在實際設計中,工程師需要根據(jù)具體的應用需求,綜合考慮其特性和參數(shù),以實現(xiàn)最佳的電路性能。你在使用這款 MOSFET 時,有遇到過哪些問題或挑戰(zhàn)呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。

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