AEC-Q104是汽車電子協(xié)會針對 “多芯片模塊（MCM）”制定的車規(guī)級可靠性驗證規(guī)范，是車載高密度集成器件進(jìn)入供應(yīng)鏈的重要準(zhǔn)入依據(jù)。該文檔包含一套基于失效機(jī)理的應(yīng)力測試，并規(guī)定了多芯片模塊（MCM）驗證所需的、由應(yīng)力測試驅(qū)動的最低驗證要求，同時引用了相關(guān)驗證測試條件。隨著標(biāo)準(zhǔn)版本更新，其適用范圍、測試項目、判定準(zhǔn)則與驗證邏輯均發(fā)生關(guān)鍵變化。本文基于標(biāo)準(zhǔn)原文，對本次修訂要點、技術(shù)影響及工程實施進(jìn)行系統(tǒng)性解讀，為器件設(shè)計、驗證工作提供權(quán)威參考。

舊版本

AEC-Q104-REV-September 14, 2017

新版本

AEC-Q104-REV-November 28, 2025

版本A（2025.11.28）更新內(nèi)容概要

適用范圍中新增AEC-Q102的相關(guān)內(nèi)容、交叉引用及適用性說明；新增AEC-Q102、AEC-Q103-002及AEC-Q103-003的引用文件。

更新AEC-Q104的適用性說明及標(biāo)準(zhǔn)中圖2內(nèi)容。

修訂通用數(shù)據(jù)的定義，納入AEC-Q102與AEC-Q103X的要求。

修訂標(biāo)準(zhǔn)中圖4測試流程，使其與標(biāo)準(zhǔn)中表1《測試方法》保持一致。

修訂標(biāo)準(zhǔn)中表1《測試方法》，具體介紹見下文。

修訂標(biāo)準(zhǔn)中表2《工藝變更認(rèn)證測試選擇指南》。

本次AEC-Q104標(biāo)準(zhǔn)核心變更要點

AEC-Q104適用性更新

完全由AEC-Q102《發(fā)光二極管（LED）、分立光電器件驗證規(guī)范》覆蓋的發(fā)光二極管（LED），不屬于本文件范圍。但同時屬于多芯片模塊的分立光電器件，納入本文件范圍（有關(guān)何種情況需執(zhí)行MCM驗證測試方案，詳見 AEC-Q102-003）。此外，作為大型 MCM 組成部分的光電器件，亦納入本文件范圍。

完全由AEC-Q103-00X系列驗證規(guī)范覆蓋的微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS），不屬于本文件范圍。但同時屬于多芯片模塊的MEMS器件，納入本文件范圍。此外，作為大型MCM組成部分的MEMS器件，亦納入本文件范圍。

測試流程更新：

點擊查看大圖

新標(biāo)準(zhǔn)建議在TC后進(jìn)行DPA測試

測試項目及條件核心變更：

A組

點擊查看大圖

E組

點擊查看大圖

H組

點擊查看大圖

針對本次標(biāo)準(zhǔn)更新，SGS微電子服務(wù)已完成測試方案的同步優(yōu)化與技術(shù)儲備，可精準(zhǔn)匹配新標(biāo)準(zhǔn)下的各項測試要求，為廣大客戶提供全流程測試驗證服務(wù)，助力客戶快速完成標(biāo)準(zhǔn)對標(biāo)、規(guī)避驗證風(fēng)險、縮短產(chǎn)品準(zhǔn)入周期。同時，我們也將持續(xù)關(guān)注AEC-Q104標(biāo)準(zhǔn)的后續(xù)迭代動態(tài)，結(jié)合行業(yè)實踐與測試經(jīng)驗，為客戶提供專業(yè)的技術(shù)解讀、測試方案定制及合規(guī)指導(dǎo)，助力產(chǎn)業(yè)鏈上下游企業(yè)高效響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)變化，共同推動車載MCM產(chǎn)品可靠性水平提升，保障車載電子系統(tǒng)的安全穩(wěn)定運行。