具有八進(jìn)制D型鎖存器的BCT8373A掃描測試設(shè)備是Texas Instruments SCOPE ^TM 可測試性集成的成員 -
電路系列。該系列器件支持IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990邊界掃描，便于測試復(fù)雜的電路板組件。掃描訪問測試電路是通過4線測試訪問端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，這些器件在功能上等同于'F373和'BCT373八通道D型鎖存器。測試電路可以由TAP激活，以獲取出現(xiàn)在設(shè)備終端的數(shù)據(jù)的快照樣本，或者對邊界測試單元執(zhí)行自測試。在正常模式下激活TAP不會影響SCOPE ^TM 八進(jìn)制鎖存器的功能操作。

在測試模式下，SCOPE ^{TM的正常操作}

八進(jìn)制鎖存器被禁止，并且測試電路能夠觀察和控制器件的I /O邊界。啟用后，測試電路可以執(zhí)行邊界掃描測試操作，如IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990中所述。

四個(gè)專用測試端子用于控制測試電路的操作：測試數(shù)據(jù)輸入（TDI），測試數(shù)據(jù)輸出（TDO），測試模式選擇（TMS）和測試時(shí)鐘（TCK）。另外，測試電路可以執(zhí)行其他測試功能，例如數(shù)據(jù)輸入上的并行簽名分析（PSA）和來自數(shù)據(jù)輸出的偽隨機(jī)模式生成（PRPG）。所有測試和掃描操作都與TAP接口同步。

SN54BCT8373A的特點(diǎn)是可在-55°C至125°C的整個(gè)軍用溫度范圍內(nèi)工作。 SN74BCT8373A的特點(diǎn)是工作溫度范圍為0°C至70°C。