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解決方案|半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)測(cè)溫

上海明策科技 ? 2022-07-24 17:49 ? 次閱讀
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場(chǎng)景 半導(dǎo)體晶體生長(zhǎng)測(cè)溫

要解決的問(wèn)題

還原爐應(yīng)用中,需多點(diǎn)位測(cè)溫,有的點(diǎn)位位置較高對(duì)準(zhǔn)目標(biāo)比較困難。

升溫過(guò)程中,材料狀態(tài)可能發(fā)生變化,導(dǎo)致發(fā)射率隨之發(fā)生變化導(dǎo)致測(cè)溫失準(zhǔn)。建議使用雙色測(cè)溫儀。

直拉法應(yīng)用中,一般集成于內(nèi)部溫控系統(tǒng),安裝空間有限。建議使用分體光纖式設(shè)備。

需透視窗測(cè)量反應(yīng)物。建議使用近紅外短波測(cè)溫。

場(chǎng)景特點(diǎn) SCENE FEATURES01

反應(yīng)溫度需維持在高溫狀態(tài)(還原爐約1080℃、直拉法約為1500℃)。

02可能有較強(qiáng)的電磁干擾,需要使用分體式光纖設(shè)備。03

熔融石英坩堝內(nèi)部反應(yīng)。

04

腔室內(nèi)填充保護(hù)性氣體。

0f964e46-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.gif0fb01f60-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.jpg解決方案0fcd72e0-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.png核心優(yōu)勢(shì)IGAR 12-LO(分體光纖測(cè)溫儀)

在高溫/高壓/電磁場(chǎng)等環(huán)境中,只放進(jìn)一個(gè)測(cè)溫鏡頭,通過(guò)光纖傳輸光信號(hào),最大程度的減少了環(huán)境的干擾項(xiàng),保證測(cè)量的準(zhǔn)確無(wú)誤。

測(cè)溫范圍全覆蓋(300~2500℃)。

高精度,最小可精確讀數(shù)到0.5%+1℃。

極短的響應(yīng)時(shí)間(2ms)。

極小的光斑尺寸(最小為0.45mm)。

光纖探頭耐溫高達(dá)250℃。

診斷功能。

雙色/單色、0/4-20mA、RS232/RS485均可切換。

0ff89470-0a18-11ed-9ade-dac502259ad0.pngIGAR 6-TV

具有直觀的視頻模式,且接線簡(jiǎn)單。

可記錄視頻實(shí)時(shí)圖像或視頻,多種格式儲(chǔ)存。

測(cè)溫量程全覆蓋(100~2000℃)。

高精度,最小可精確到讀數(shù)的0.4%+2℃。

可變焦鏡頭,可調(diào)節(jié)測(cè)距(可從210至2000mm內(nèi)測(cè)溫)。

設(shè)定內(nèi)可調(diào)多種參數(shù),使用多種環(huán)境需求。

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)IGAR 12-LOIGAR 6-TV
溫度范圍300...3300℃100...2000℃
測(cè)量波段1.52...1.64μm波段1: 1.5...1.6μm;
波段2:2.0...2.5μm
響應(yīng)時(shí)間2ms2ms
測(cè)量精度

讀數(shù)的0.5%±1℃(<1500℃)

讀數(shù)的0.7%±1℃(>1500℃)

測(cè)量值的0.4%±2℃(<1500℃)

測(cè)量值的0.8%(>1500℃)

重復(fù)性讀數(shù)的0.3%+1℃測(cè)量值的0.2%+1℃
瞄準(zhǔn)方式同軸激光瞄準(zhǔn)視頻瞄準(zhǔn),彩色圖像。帶有瞄準(zhǔn)指示光圈

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  • 半導(dǎo)體
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    的頭像 發(fā)表于 07-18 14:56 ?1399次閱讀
    瑞樂(lè)<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>——TC Wafer晶圓<b class='flag-5'>測(cè)溫</b>系統(tǒng)的技術(shù)創(chuàng)新與未來(lái)趨勢(shì)熱電偶<b class='flag-5'>測(cè)溫</b>

    現(xiàn)代集成電路半導(dǎo)體器件

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    發(fā)表于 07-12 16:18

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