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半導(dǎo)體芯片散熱面臨的挑戰(zhàn)

向欣電子 ? 2023-07-31 22:43 ? 次閱讀
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半導(dǎo)體已受到熱量的限制,好的設(shè)計(jì)可以減少它,并幫助消散它。

半導(dǎo)體消耗的功率會(huì)產(chǎn)生熱量,必須將熱量從設(shè)備中排出,但如何有效地做到這一點(diǎn)是一個(gè)日益嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)。

熱量是半導(dǎo)體的廢物。當(dāng)功率在設(shè)備和電線上耗散時(shí)就會(huì)產(chǎn)生這種現(xiàn)象。設(shè)備切換時(shí)會(huì)消耗電力,這意味著它取決于活動(dòng),并且不完美的設(shè)備和電線不斷地浪費(fèi)電力。設(shè)計(jì)很少是完美的,一些熱量來(lái)自于執(zhí)行不需要的功能的活動(dòng)。但在某些時(shí)候,設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)必須弄清楚如何消除熱量,因?yàn)槿绻贿@樣做,產(chǎn)品的使用壽命將非常短。

只有三個(gè)過(guò)程控制熱量的傳遞:傳導(dǎo)、對(duì)流和輻射。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),傳導(dǎo)適用于固體,對(duì)流適用于液體和氣體,輻射適用于真空,而這種情況在半導(dǎo)體中很少見。

“與熱量相關(guān)的三個(gè)步驟,” Ansys 半導(dǎo)體部門營(yíng)銷總監(jiān) Marc Swinnen 說(shuō)道。“有產(chǎn)生、傳導(dǎo)和耗散。你產(chǎn)生熱量,將其傳導(dǎo)到某個(gè)地方,然后消散。功率分析告訴您熱量產(chǎn)生的位置。傳導(dǎo)和耗散是一種包括流體學(xué)的物理分析。所有這三個(gè)都必須包含在系統(tǒng)分析中,因?yàn)樗鼈冎g存在反饋?!?/p>

隨著晶體管密度的增加,這變得更加困難。“大多數(shù)人都可以改變導(dǎo)電路徑,”Cadence 多物理場(chǎng)系統(tǒng)分析小組的攝氏度熱解算器產(chǎn)品工程師 Karthick Gopalakrishnan說(shuō)道。“材料和設(shè)計(jì)本身有改進(jìn)的潛力,可以通過(guò)散熱設(shè)備的傳導(dǎo)帶走更多熱量。面臨的挑戰(zhàn)是,除非我們使用大型服務(wù)器,否則這些設(shè)備周圍的熱空間非常小。您必須考慮材料改進(jìn)、芯片、封裝或 PCB 周圍熱空間的智能利用。你真正想做的是提高傳導(dǎo)傳熱率?!?/p>

如果不進(jìn)行正確的分析,僅僅在設(shè)備上放置一個(gè)大型散熱器就會(huì)導(dǎo)致其他問(wèn)題。要做到這一點(diǎn),需要考慮氣流及其所在空間的機(jī)械設(shè)計(jì),以便考慮到對(duì)其他設(shè)備的影響。

即使散熱器也有局限性?!坝泻芏喾椒梢韵到y(tǒng)中的熱量,例如強(qiáng)制液體冷卻,” Synopsys EDA 集團(tuán)產(chǎn)品管理總監(jiān) William Ruby 說(shuō)道。“我們看到一些更先進(jìn)的封裝取得了許多進(jìn)步。通過(guò) 3D-IC 設(shè)計(jì),可以采用強(qiáng)制氣流和液體冷卻。有一些關(guān)于能夠通過(guò)特殊通孔減輕熱量以幫助擴(kuò)散的新概念。”

與導(dǎo)體和絕緣體之間存在數(shù)量級(jí)差異的電導(dǎo)率不同,熱導(dǎo)率在某種程度上受到限制?!肮璧碾妼?dǎo)率為 100 至 120 瓦/米開爾文 (W/(mx K)),作為導(dǎo)熱材料,這已經(jīng)相當(dāng)不錯(cuò)了,”西門子數(shù)字工業(yè)軟件旗下 Simcenter 產(chǎn)品組合的電子與半導(dǎo)體行業(yè)總監(jiān) John Parry 表示。“銅的電導(dǎo)率只有 400,而銅通常被用作經(jīng)濟(jì)經(jīng)濟(jì)的最佳熱導(dǎo)體。”

各種大大小小的散熱器和冷板

還有其他經(jīng)濟(jì)方面的考慮。Arm系統(tǒng)集成與開發(fā)部研究員兼高級(jí)總監(jiān) Javier DeLaCruz 表示:“數(shù)據(jù)中心的主要成本驅(qū)動(dòng)因素不是散熱方法的成本,而是管理數(shù)據(jù)中心級(jí)別熱傳遞的運(yùn)營(yíng)成本。”“進(jìn)入數(shù)據(jù)中心的電力是有限的,這些電力在為計(jì)算系統(tǒng)供電和提取熱量之間共享。因此,每瓦性能必須成為關(guān)注的指標(biāo),而不僅僅是性能?!?/p>

熱量會(huì)對(duì)性能產(chǎn)生重大影響。“即使遵循最佳散熱策略,每個(gè)芯片在電路運(yùn)行期間也會(huì)不同程度地升溫,從而降低性能,” Keysight EDA產(chǎn)品經(jīng)理 How-Siang Yap 說(shuō)道?!皠?dòng)態(tài)溫度可以改變器件的電氣特性,例如增益、阻抗和負(fù)載牽引失配,以及更高級(jí)別的波形特性,例如數(shù)字調(diào)制信號(hào)射頻電路中的誤差矢量幅度 (EVM) 和相鄰?fù)ǖ佬孤┍?(ACLR)。在模擬系統(tǒng)中,影響懲罰可能更高。”

分析并不容易?!爱?dāng)今的芯片非常復(fù)雜,以至于很難定義如何創(chuàng)建能夠顯示最壞情況條件的活動(dòng),”Ansys 的 Swinnen 說(shuō)道?!爱?dāng)您查看由溫度引起的計(jì)時(shí)誤差時(shí),您看到的是納秒,最多幾微秒。其次,電參數(shù)和熱參數(shù)的時(shí)間常數(shù)非常不同,至少兩個(gè)數(shù)量級(jí)。當(dāng)熱量綻放時(shí),它會(huì)通過(guò)芯片和隔壁慢慢消散,因此您會(huì)看到熱量因兩秒鐘前在隔壁街區(qū)發(fā)生的事情而增加?!?/p>

芯片內(nèi)的熱量分布

熱量?jī)A向于向各個(gè)方向傳播?!澳銦o(wú)法真正阻止熱量流向任何地方,”西門子的帕里說(shuō)。“你可以哄它,但這與電氣世界非常不同,在電氣世界中,導(dǎo)體和絕緣體之間的電導(dǎo)率差異可能是 20、21 個(gè)數(shù)量級(jí)。從電氣角度來(lái)說(shuō),你可以讓電流流向你想要的地方,但從熱角度來(lái)說(shuō),你確實(shí)做不到。”

由于熱量取決于活動(dòng),因此芯片表面的溫度并不是恒定、均勻分布的。“您可能有一個(gè)由設(shè)計(jì)中計(jì)算量非常大的部分創(chuàng)建的熱點(diǎn),例如硬件加速器,”Synopsys 的 Ruby 說(shuō)道?!靶酒牧硪徊糠挚赡懿惶钴S,或者只在特定的操作模式下使用。芯片上的溫度梯度取決于工作負(fù)載或活動(dòng)?!?/p>

散熱在理論上很簡(jiǎn)單,但在實(shí)踐中卻困難得多。Cadence 的 Gopalakrishnan 表示:“您希望通過(guò)在任何層上盡可能多地傳播熱量來(lái)最大程度地減少熱點(diǎn)?!薄澳惚仨毧紤]東西放在哪里。將某些東西移動(dòng)到芯片邊緣并不總是可能的,因?yàn)樵谀抢餆崃坎粫?huì)向一個(gè)方向擴(kuò)散。”

雖然您可能無(wú)法控制熱量,但您可以了解它是如何傳播的。“如果你對(duì)流經(jīng)芯片上電線的電流進(jìn)行建模,并觀察由此產(chǎn)生的熱通量,那么在所有電流融合在一起之前,它不會(huì)走得太遠(yuǎn),”帕里說(shuō)?!澳憧梢圆榭礈囟惹€,這并不能真正顯示出走線和絕緣體之間的差異。如果您查看溫度曲線,您將幾乎無(wú)法檢測(cè)到金屬痕跡的位置。但如果你觀察一下熱通量,就會(huì)發(fā)現(xiàn)金屬中的熱通量比絕緣體中的熱通量高幾個(gè)數(shù)量級(jí)?!?/p>

這讓事情變得容易一些?!皩?duì)很多這樣的東西進(jìn)行建模時(shí),它會(huì)讓事情變得更容易,”帕里補(bǔ)充道?!巴ㄟ^(guò)不對(duì)芯片表面上的單根導(dǎo)線、金屬化層進(jìn)行建模,而是僅使用平均材料屬性,您可以獲得相當(dāng)準(zhǔn)確的結(jié)果,這是一種非常常見的做法。”

一種有效的技術(shù)是利用熱感知平面圖和單元布局。“基本思想是進(jìn)行布局以最小化峰值溫度和溫度梯度,”Ruby 說(shuō)?!敖柚锢砀兄?RTL 功耗分析工具,您可以分析初始布局,然后將該功耗曲線數(shù)據(jù)輸入熱分析中。這是從基于最終簽核或完成的物理實(shí)施進(jìn)行分析的左移,這可能為時(shí)已晚,無(wú)法開始更改宏觀平面圖。我們還可以研究通孔密度、凸塊密度和不同金屬密度等?!?/p>

對(duì)于 3D-IC,TSV 一直被認(rèn)為是創(chuàng)建熱走廊的一種方法?!案玫?TSV 放置會(huì)有所幫助,”Gopalakrishnan 說(shuō)?!暗@也是有限制的,因?yàn)樗鼈兇_實(shí)占用了寶貴的空間。在布局規(guī)劃方面,無(wú)論是在芯片級(jí)別(當(dāng)您談?wù)搮^(qū)塊、電源塊或功能單元)還是在布線級(jí)別(當(dāng)您嘗試添加 TSV)時(shí),都有很大的改變空間。對(duì)它們來(lái)說(shuō)最大的優(yōu)勢(shì)之一是,當(dāng)您在芯片或電源附近工作時(shí),您可以瞄準(zhǔn)熱點(diǎn)?!?/p>

但影響有限?!八鼈?cè)谀撤N程度上被用作熱走廊,但如果你把它們想象成銅,它們的導(dǎo)電率只有它們所穿過(guò)的硅的四倍,”帕里說(shuō)?!翱紤]一個(gè) 10×10 的單元,每個(gè)角落都有一個(gè) TSV。這是百分之四。由于 TSV 的電導(dǎo)率僅為其所穿過(guò)的硅的電導(dǎo)率的四倍,因此您可能為芯片的有效電導(dǎo)率增加了 16%。它對(duì)熱量沒有太大影響,雖然它們確實(shí)有幫助,但它并不是靈丹妙藥?!?/p>

另一種新興技術(shù)是背面供電?!氨趁骐娫从兄陔娏鬏?,但使散熱成為更大的挑戰(zhàn),”DeLaCruz 說(shuō)。“體硅以前是局部散熱的重要機(jī)制,現(xiàn)在厚度已從約 800 微米發(fā)展到只有 1 微米,使得局部熱點(diǎn)更難以管理。TSV 并沒有使熱管理變得更容易,它們只是讓它變得不同,因?yàn)?TSV 以非常局部的方式提供幫助,并且僅在垂直于晶體管的軸上提供幫助。TSV 周圍的氧化物襯墊也會(huì)阻礙橫向熱能耗散?!?/p>

3D 增加了新的熱問(wèn)題?!叭绻阆氲叫酒g的膠水層,這是很常見的,它們的目的是將芯片機(jī)械地固定在一起,”帕里說(shuō)?!澳阈枰欢ǖ暮穸取7駝t,芯片之間的互連處的剪切力太高,并且會(huì)導(dǎo)致電氣損壞。不幸的是,與硅芯片相比,這些膠層是相對(duì)較軟的材料,并且還往往具有相對(duì)較低的導(dǎo)熱率。您需要在熱力和機(jī)械力之間進(jìn)行權(quán)衡。從熱學(xué)角度來(lái)說(shuō),您希望該層盡可能薄,以使通過(guò)該層的熱傳導(dǎo)盡可能有效。從機(jī)械角度來(lái)說(shuō),您希望有一個(gè)厚層,因?yàn)檫@樣可以吸收兩個(gè)模具之間位移的不匹配,而其間材料的剪切力相對(duì)較小?!?/p>

芯片外部的熱量分布

熱量可以通過(guò)封裝頂部逸出,然后可能進(jìn)入散熱器,或者通過(guò)底部及其所連接的 PCB 逸出?!叭绻兴芰习渤尚?BGA,那么您將把絕大多數(shù)(80% 到 90%)的熱量傳遞到電路板上,”Parry 說(shuō)。“如果你的封裝具有通往蓋子的良好傳導(dǎo)路徑,那么你可能可以安排 80% 到 90% 的熱量通過(guò)該路徑傳導(dǎo)。您可以控制它,具體取決于您所采取的打包方法,但不能完全控制。有些人總是走相反的路?!?/p>

您希望熱量流向的地方取決于具體應(yīng)用?!霸诜?wù)器中,包裝周圍有很多空間可以利用,”Gopalakrishnan 說(shuō)?!澳銉A向于用主動(dòng)或被動(dòng)散熱器以及有助于散發(fā)大量熱量的風(fēng)扇來(lái)填充它。PCB 本身不會(huì)在散熱方面發(fā)揮主要作用。當(dāng)您使用移動(dòng)設(shè)備時(shí),這不是一個(gè)解決方案,因?yàn)榭赡艽蠹s一半的熱量通過(guò)底部,剩下的一半則到達(dá)頂部。在這種情況下,PCB 將在芯片散熱方面發(fā)揮重要作用?!?/p>

當(dāng)空間有限時(shí),事情就會(huì)變得更加困難?!案鶕?jù)具體市場(chǎng)的不同,可以通過(guò)不同的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)這一目標(biāo),”Arm 的 DeLaCruz 說(shuō)道?!袄?,在智能手機(jī)中,由于系統(tǒng)體積最小且散熱有效,石墨或石墨烯薄膜等高導(dǎo)電薄膜的使用非常普遍。在基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域,主動(dòng)和被動(dòng) 3D 均熱板的使用可以實(shí)現(xiàn)數(shù)百瓦范圍內(nèi)的運(yùn)行?!?/p>

液體冷卻是另一種可能性?!拔覀冏罱趯?duì)流領(lǐng)域看到了很多進(jìn)展,”戈帕拉克里希南說(shuō)?!澳阌酗L(fēng)扇、液體冷卻和兩相系統(tǒng)。我們還擁有數(shù)據(jù)中心級(jí)別的浸沒式冷卻等先進(jìn)系統(tǒng)。您會(huì)看到很多設(shè)計(jì)工程師和制造設(shè)備和系統(tǒng)的公司的路線圖,他們將液體冷卻作為路線圖的一部分。這是因?yàn)?,如果您只是在設(shè)備上添加一個(gè)散熱器并期望它能夠冷卻,那么當(dāng)您的散熱量超過(guò)每平方米 1 千瓦時(shí),它就會(huì)達(dá)到極限。如果使用風(fēng)扇,每平方米的功率約為 10 千瓦。但如今,我們擁有每平方米 1 兆瓦的先進(jìn)服務(wù)器設(shè)備芯片。你真的必須探索這些策略?!?/p>

并非所有人都認(rèn)為它會(huì)很快被采用。安培計(jì)算公司產(chǎn)品副總裁 Madhu Rangarajan 表示:“雖然我們預(yù)計(jì)液體冷卻將出現(xiàn)在超級(jí)計(jì)算集群等專業(yè)部署中,但它不太可能廣泛扎根。”“對(duì)于芯片設(shè)計(jì)人員來(lái)說(shuō),在創(chuàng)建新技術(shù)時(shí)考慮實(shí)際基礎(chǔ)設(shè)施限制并與系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員和數(shù)據(jù)中心設(shè)計(jì)人員合作以推動(dòng)其廣泛部署非常重要。我們預(yù)計(jì)未來(lái)五年部署的大多數(shù) CPU 仍需要以有效降低 TCO 的方式進(jìn)行風(fēng)冷。”

模型和分析

熱可能是第三方小芯片市場(chǎng)的絆腳石之一,因?yàn)樾⌒酒枰獰崮P?。“各個(gè)小芯片實(shí)際上不能相互獨(dú)立地設(shè)計(jì),”Parry 說(shuō)?!懊總€(gè)芯片都需要了解其相鄰芯片上的熱源。這些高密度先進(jìn)封裝設(shè)計(jì)的開發(fā)需要更多的協(xié)作。為了使設(shè)計(jì)易于處理,這些東西的開發(fā)方式必須改變?!?/p>

創(chuàng)建模型并不簡(jiǎn)單?!坝泻芏嗍虑槟愦_實(shí)不想在芯片熱模型中披露,”Gopalakrishnan 說(shuō)?!叭藗冋谂σ越惦A模型或某種近似的形式添加自熱效應(yīng)、芯片的熱阻特性,而這種近似不一定需要有人了解芯片中存在的每一個(gè)幾何細(xì)節(jié)。目前,部分芯片模型就是這樣生成的?!?/p>

工具也需要改變。“3D-IC 世界是綜合模型的世界,需要進(jìn)行基于模型的分析,”Ruby 說(shuō)道。“你不可能像我們今天那樣把所有事情都平面化。在單個(gè)芯片上,我們?cè)诰W(wǎng)表級(jí)別上進(jìn)行時(shí)序簽核和電源簽核。在 3D-IC 背景下,這可能變得不切實(shí)際,因此我們需要開始考慮對(duì)各種組件進(jìn)行建模?!?/p>

最終它將設(shè)計(jì)和包裝結(jié)合在一起?!澳阈枰獙⑿酒O(shè)計(jì)工作流程與封裝設(shè)計(jì)工作流程結(jié)合起來(lái),”帕里說(shuō)。“你不能將它們視為一個(gè)發(fā)生在另一個(gè)之前的事件,即芯片被提供給封裝組,特別是在 3D-IC 中。但它在某種程度上適用于 2.5D。我們面臨的挑戰(zhàn)是采用傳統(tǒng)上由封裝工程師(可能具有機(jī)械背景)使用的模擬技術(shù)類型,并將其提供給進(jìn)行 IC 驗(yàn)證的人員作為 IC 設(shè)計(jì)流程的一部分。他們可能不習(xí)慣使用機(jī)械工程師使用的工具集。這是采用該技術(shù)并重新包裝它的情況,以便需要在更高的設(shè)計(jì)流程中使用它的人們可以使用它。”

結(jié)論

許多芯片都面臨熱障,并且解決該問(wèn)題并不容易。“不幸的事實(shí)是,熱量是集成密度的限制因素,”Swinnen 說(shuō)?!拔覀兛梢栽O(shè)計(jì)和制造令人難以置信的芯片,但它們會(huì)融化。這不是制造限制,也不是設(shè)計(jì)限制。這是物理限制,我們無(wú)法散發(fā)更多的熱量?!?/p>

盡管在某些應(yīng)用中可以使用奇特的解決方案,但大多數(shù)市場(chǎng)必須找到用更少的資源做更多的事情的方法,這意味著每瓦特具有更多的功能。與此相關(guān)的成本比過(guò)去的解決方案要大得多。

來(lái)源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察編譯自semiengineering

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    直線電機(jī)在<b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>量檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用

    芯源半導(dǎo)體安全芯片技術(shù)原理

    物理攻擊,如通過(guò)拆解設(shè)備獲取存儲(chǔ)的敏感信息、篡改硬件電路等。一些部署在戶外的物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備,如智能電表、交通信號(hào)燈等,更容易成為物理攻擊的目標(biāo)。 芯源半導(dǎo)體的安全芯片采用了多種先進(jìn)的安全技術(shù),從硬件層面為物
    發(fā)表于 11-13 07:29

    BW-4022A半導(dǎo)體分立器件綜合測(cè)試平臺(tái)---精準(zhǔn)洞察,卓越測(cè)量

    功率、高散熱要求下穩(wěn)定工作。 **電子設(shè)備制造商的來(lái)料檢驗(yàn)** 電子設(shè)備制造商(如蘋果、華為等)在采購(gòu)半導(dǎo)體器件時(shí),需要對(duì)來(lái)料進(jìn)行嚴(yán)格的檢驗(yàn)。半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備可以幫助他們檢測(cè)采購(gòu)的芯片
    發(fā)表于 10-10 10:35

    【「AI芯片:科技探索與AGI愿景」閱讀體驗(yàn)】+半導(dǎo)體芯片產(chǎn)業(yè)的前沿技術(shù)

    閃存。 現(xiàn)在應(yīng)用于邏輯芯片,還在起步階段。 2)3D堆疊技術(shù)面臨挑戰(zhàn) 3D堆疊技術(shù)面臨最大挑戰(zhàn)散熱
    發(fā)表于 09-15 14:50

    半導(dǎo)體行業(yè)特種兵#半導(dǎo)體# 芯片

    半導(dǎo)體
    華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造
    發(fā)布于 :2025年09月12日 10:22:35

    半導(dǎo)體新項(xiàng)目芯片制造# 半導(dǎo)體#

    半導(dǎo)體
    華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造
    發(fā)布于 :2025年09月11日 16:52:22

    FOPLP工藝面臨挑戰(zhàn)

    FOPLP 技術(shù)目前仍面臨諸多挑戰(zhàn),包括:芯片偏移、面板翹曲、RDL工藝能力、配套設(shè)備和材料、市場(chǎng)應(yīng)用等方面。
    的頭像 發(fā)表于 07-21 10:19 ?1753次閱讀
    FOPLP工藝<b class='flag-5'>面臨</b>的<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>

    TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)當(dāng)前面臨的技術(shù)挑戰(zhàn)與應(yīng)對(duì)方案

    盡管TC Wafer晶圓系統(tǒng)已成為半導(dǎo)體溫度監(jiān)測(cè)的重要工具,但在實(shí)際應(yīng)用中仍面臨多項(xiàng)技術(shù)挑戰(zhàn)。同時(shí),隨著半導(dǎo)體工藝不斷向更小節(jié)點(diǎn)演進(jìn),該系統(tǒng)也展現(xiàn)出明確的發(fā)展趨勢(shì),以滿足日益嚴(yán)格的測(cè)溫
    的頭像 發(fā)表于 07-10 21:31 ?1304次閱讀
    TC Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng)當(dāng)前<b class='flag-5'>面臨</b>的技術(shù)<b class='flag-5'>挑戰(zhàn)</b>與應(yīng)對(duì)方案

    半導(dǎo)體器件中微量摻雜元素的EDS表征

    微量摻雜元素在半導(dǎo)體器件的發(fā)展中起著至關(guān)重要的作用,可以精準(zhǔn)調(diào)控半導(dǎo)體的電學(xué)、光學(xué)性能。對(duì)器件中微量摻雜元素的準(zhǔn)確表征和分析是深入理解半導(dǎo)體器件特性、優(yōu)化器件性能的關(guān)鍵步驟,然而由于微量摻雜元素含量極低,對(duì)它的檢測(cè)和表征也
    的頭像 發(fā)表于 04-25 14:29 ?2298次閱讀
    <b class='flag-5'>半導(dǎo)體</b>器件中微量摻雜元素的EDS表征
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