9月3日消息，位于日本橫濱的大和實(shí)驗(yàn)室是聯(lián)想Thinkpad面向全球市場(chǎng)最核心的研發(fā)基地之一。從IBM時(shí)代，日本的大和實(shí)驗(yàn)室就是許多“小黑”粉絲向往的地方。收歸聯(lián)想后，目前聯(lián)想擁有三家研發(fā)機(jī)構(gòu)，分別位于北京、日本和美國(guó)北卡羅來(lái)納州。但所有Thinkpad筆記本電腦機(jī)型的設(shè)計(jì)仍然全部由大和實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)，可以說(shuō)這里是所有Thinkpad的家。

2005年聯(lián)想收購(gòu)了大和實(shí)驗(yàn)室的全部所有權(quán)，保留了全部的技術(shù)研發(fā)團(tuán)隊(duì)和硬件設(shè)施?，F(xiàn)在IBM時(shí)期的Thinkpad大和實(shí)驗(yàn)室已原樣搬遷至橫濱市的未來(lái)港中央大樓，名字仍為“大和實(shí)驗(yàn)室”。

大和Thinkpad實(shí)驗(yàn)室歷來(lái)以顧客的實(shí)際應(yīng)用為研發(fā)產(chǎn)品的出發(fā)基點(diǎn)，測(cè)試日常使用PC過(guò)程中可能出現(xiàn)的應(yīng)用問(wèn)題，直到這款產(chǎn)品能最終通過(guò)所有的嚴(yán)格測(cè)試為止。

目前大和實(shí)驗(yàn)室包括環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、工作噪音實(shí)驗(yàn)室、電子波實(shí)驗(yàn)室、抗磨損檢測(cè)和振動(dòng)、沖撞實(shí)驗(yàn)室等。

1、辦公樓。

2、牢固性、耐久性設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)室。

3、該設(shè)備測(cè)試筆記本的堅(jiān)固性、耐久性。筆記本在攜帶過(guò)程中，經(jīng)常處于顛簸狀態(tài)，液晶屏、風(fēng)扇軸等都處于考驗(yàn)中，該設(shè)備能模擬橫向及縱向的各種瞬時(shí)沖擊，瞬時(shí)沖擊力可以達(dá)到數(shù)百牛頓。

4、背包壓力測(cè)試，測(cè)試筆記本的抗顛簸性。

5、環(huán)境實(shí)驗(yàn)室。

6、鍵盤(pán)手感測(cè)試，保證使用者在敲擊鍵盤(pán)時(shí)手感舒適。

7、液晶屏彎曲試驗(yàn)，通過(guò)金屬設(shè)備的壓力使液晶屏不在同一平面上，測(cè)試筆記本的柔韌度。

8、抗灰塵實(shí)驗(yàn)。筆記本在使用過(guò)程中不可避免會(huì)有灰塵通過(guò)鍵盤(pán)縫隙進(jìn)入內(nèi)部，該實(shí)驗(yàn)可以保證在灰塵進(jìn)入的情況下筆記本仍然可以正常工作。

9、下落實(shí)驗(yàn)。在約1.5米的高度，使筆記本自由落體，測(cè)試其抗摔性。

10、當(dāng)然，筆記本掉落時(shí)可能不會(huì)那么平穩(wěn)，比如某個(gè)角先著地會(huì)怎樣呢？邊角掉落實(shí)驗(yàn)就是測(cè)試這種情況下對(duì)筆記本造成的沖擊，看是否會(huì)出現(xiàn)斷裂或掉漆現(xiàn)象。

11、筆記本正在運(yùn)行時(shí)的滑落實(shí)驗(yàn)。

12、工作噪音實(shí)驗(yàn)室。圖為半無(wú)音室，這種墻面幾乎不反射任何聲音，在該環(huán)境下測(cè)試筆記本運(yùn)行時(shí)的噪音大小。筆記本的運(yùn)行噪音來(lái)自CPU、硬盤(pán)，甚至筆記本變壓器。

13、電子波實(shí)驗(yàn)室的靜電測(cè)試，USB插拔以及網(wǎng)線(xiàn)水晶頭插拔時(shí)經(jīng)常會(huì)產(chǎn)生大量靜電，該實(shí)驗(yàn)?zāi)M這種情況，測(cè)試電壓高達(dá)8千伏-16千伏。

14、LCD開(kāi)關(guān)實(shí)驗(yàn)，不斷開(kāi)關(guān)持續(xù)測(cè)試四天。

15、當(dāng)一個(gè)人兩腳踩到筆記本上后，這臺(tái)筆記本是否還能正常工作呢？

16、這兩個(gè)鐵質(zhì)的重物，一個(gè)普通的女生雙手抬起來(lái)會(huì)有些吃力，將它們壓到筆記本上，也是實(shí)驗(yàn)的內(nèi)容之一。

17、筆記本出廠后在運(yùn)輸?shù)倪^(guò)程中，要經(jīng)過(guò)飛機(jī)、輪船等運(yùn)輸工具，期間的溫度可能0攝氏度以下，也可能高達(dá)60攝氏度。測(cè)試的溫度范圍區(qū)間為零下20攝氏度至60攝氏度。

18、電波測(cè)試。圖為半無(wú)音電波暗室，測(cè)試該環(huán)境下，其他設(shè)備產(chǎn)生的電波對(duì)筆記本造成的影響。