近日，概倫電子具有自主知識產(chǎn)權(quán)的器件參數(shù)分析儀FS800，成功中標(biāo)南京大學(xué)半導(dǎo)體電子測量系統(tǒng)項(xiàng)目，將為南京大學(xué)在憶阻器、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)等前沿領(lǐng)域的材料研究、器件制備、應(yīng)用系統(tǒng)開發(fā)的全流程，提供高性能、高效率且安全可靠的電性參數(shù)測試技術(shù)保障，助力科研團(tuán)隊(duì)加速突破關(guān)鍵技術(shù)難題。電性參數(shù)測試是洞悉器件物理特性、驗(yàn)證工藝可行性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，高精度測試如同科研的“精準(zhǔn)測量基石”，為每一次創(chuàng)新探索提供可靠數(shù)據(jù)支持。隨著硅基芯片逼近物理極限，后摩爾時代的前沿半導(dǎo)體研究工作不斷突破傳統(tǒng)技術(shù)邊界，新興材料、新型器件結(jié)構(gòu)、先進(jìn)工藝迅速發(fā)展，科研團(tuán)隊(duì)對電性參數(shù)測試的精度、效率與適配性的需求也在快速提升。

為精準(zhǔn)匹配南京大學(xué)在憶阻器、神經(jīng)形態(tài)器件等前沿半導(dǎo)體領(lǐng)域的研究需求，概倫電子基于功能全面、配置靈活的FS800器件參數(shù)分析儀，搭建了一整套電性參數(shù)測試平臺。該平臺在單機(jī)內(nèi)集成了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、快速波形發(fā)生與測試以及高速時域信號采集等能力，可以為南京大學(xué)的突破性科研工作提供全方位、高精度的電性參數(shù)測試技術(shù)支撐。

模塊化架構(gòu)，靈活部署按需擴(kuò)展

FS800器件參數(shù)分析儀采用概倫電子自主知識產(chǎn)權(quán)的模塊化混合架構(gòu)與高速數(shù)據(jù)總線設(shè)計(jì)，兼具高精度、高靈活性與強(qiáng)大擴(kuò)展能力。該平臺可按需配置高精度SMU與低漏電矩陣模塊，支持多通道并行測試，在單臺臺式設(shè)備中即可覆蓋從單器件到大規(guī)模陣列的自動化電性參數(shù)表征，大幅提升測試效率并加速系統(tǒng)驗(yàn)證進(jìn)程。

高精度表征，揭示器件細(xì)微特性

FS800搭載自研高精度SMU模塊FS810，具備寬量程、fA級電流分辨率與精度，能夠在廣泛的工作條件下精準(zhǔn)捕捉二維材料與憶阻器的細(xì)微電流電壓特性;同時，配合快速波形發(fā)生與測量套件，系統(tǒng)采樣速率可擴(kuò)展至100 MS/s、最小脈寬縮短至130 ns，可高效支持憶阻器阻變過程及神經(jīng)突觸器件在脈沖刺激下的高速電導(dǎo)演化的實(shí)時捕捉，從多維度實(shí)現(xiàn)類腦學(xué)習(xí)行為與器件可靠性的高精度特性表征與驗(yàn)證。

智能化數(shù)據(jù)管理與分析，加速科研成果轉(zhuǎn)化

FS800搭載的LabExpress測試軟件提供直觀的圖形化界面與豐富的測試算法庫，廣泛覆蓋憶阻器與神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)等前沿研究中的動態(tài)參數(shù)、靜態(tài)參數(shù)和可靠性驗(yàn)證等應(yīng)用場景，用戶不僅無需編程即可高效完成各類測試任務(wù)，還可通過內(nèi)置腳本編程平臺靈活定制復(fù)雜測試應(yīng)用與批量任務(wù)，滿足個性化實(shí)驗(yàn)需求，同時配合實(shí)時可視化、統(tǒng)計(jì)分析和高效導(dǎo)出功能，大幅提升科研過程中的數(shù)據(jù)管理效率與分析深度，加速從材料探索到器件應(yīng)用的完整研發(fā)閉環(huán)。

此次中標(biāo)不僅是南京大學(xué)對概倫電子產(chǎn)品性能與技術(shù)實(shí)力的高度認(rèn)可，更是概倫電子以自主創(chuàng)新的量測解決方案助力半導(dǎo)體前沿研究的重要里程碑。未來，概倫電子將持續(xù)以前沿科研和產(chǎn)業(yè)需求為導(dǎo)向，堅(jiān)持量測技術(shù)創(chuàng)新，為南京大學(xué)及更多科研機(jī)構(gòu)提供更精準(zhǔn)、高效的測試解決方案，攜手突破技術(shù)創(chuàng)新邊界，加速前沿應(yīng)用落地，共同推進(jìn)半導(dǎo)體行業(yè)邁向新的發(fā)展階段。