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講到肖特基勢壘二極管,不明所以然的朋友還是會問:為什么叫“肖特基”?肖特基勢壘二極管跟肖特基二極管又是什么關(guān)系?......所以,本章節(jié)要跟大家分享的就是關(guān)于溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的相關(guān)知識。
一、肖特基勢壘二極管的發(fā)展歷史
其實(shí),很難說的清楚,肖特基勢壘二極管是誰最先發(fā)明的,因?yàn)樨堩毝O管本質(zhì)上也是肖特基勢壘二極管。肖特基勢壘二極管是在中度摻雜的半導(dǎo)體材料上與金屬融合而形成的,二堡二極管與此類似。所以,大眾暫時把肖特基勢壘二極管以德國物理學(xué)家沃爾特·H·肖特基(Walter.H.Schotty)為發(fā)明人并用其名字命名,同時,也是他研究了金屬-半導(dǎo)體結(jié)的物理現(xiàn)象。
二、肖特基勢壘二極管的介紹
肖特基勢壘二極管,英文全稱:SchottkyBarrierDiode,縮寫成SBD,而我們常說的“肖特基二極管”是它的一種簡稱。肖特基勢壘二極管(SBD)不是利用P型半導(dǎo)體與N型半導(dǎo)體接觸形成PN結(jié)原理制作的,而是利用金屬與半導(dǎo)體接觸形成的金屬-半導(dǎo)體結(jié)原理制作的。因此,肖特基勢壘二極管(SBD)也稱為金屬-半導(dǎo)體(接觸)二極管或表面勢壘二極管,它是一種熱載流子二極管,利用PN結(jié)的肖特基勢壘來實(shí)現(xiàn)整流、選擇、開關(guān)、調(diào)制等功能。
三、肖特基勢壘二極管(SBD)的工作原理
肖特基勢壘二極管(SBD)是以貴金屬(金、銀、鋁、鉑等)A為正極,以N型半導(dǎo)體B為負(fù)極,利用二者接觸面上形成的勢壘具有整流特性而制成的金屬-半導(dǎo)體器件。
因?yàn)镹型半導(dǎo)體中存在著大量的電子,貴金屬中僅有極少量的自由電子,所以電子便從濃度高的B中向濃度低的A中擴(kuò)散。顯然,金屬A中沒有空穴,也就不存在空穴自A向B的擴(kuò)散運(yùn)動。隨著電子不斷從B擴(kuò)散到A,B表面電子濃度逐漸降低,表面電中性被破壞,于是就形成勢壘,其電場方向?yàn)锽→A。但在該電場作用之下,A中的電子也會產(chǎn)生從A→B的漂移運(yùn)動,從而消弱了由于擴(kuò)散運(yùn)動而形成的電場。當(dāng)建立起一定寬度的空間電荷區(qū)后,電場引起的電子漂移運(yùn)動和濃度不同引起的電子擴(kuò)散運(yùn)動達(dá)到相對的平衡,便形成了肖特基勢壘。
典型的肖特基整流管的內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)是以N型半導(dǎo)體為基片,在上面形成用砷作摻雜劑的N-外延層。陽極使用鉬或鋁等材料制成阻檔層。用二氧化硅(SiO2)來消除邊緣區(qū)域的電場,提高管子的耐壓值。N型基片具有很小的通態(tài)電阻,其摻雜濃度較H-層要高100%倍。在基片下邊形成N+陰極層,其作用是減小陰極的接觸電阻。通過調(diào)整結(jié)構(gòu)參數(shù),N型基片和陽極金屬之間便形成肖特基勢壘,如圖所示。當(dāng)在肖特基勢壘兩端加上正向偏壓(陽極金屬接電源正極,N型基片接電源負(fù)極)時,肖特基勢壘層變窄,其內(nèi)阻變?。环粗?,若在肖特基勢壘兩端加上反向偏壓時,肖特基勢壘層則變寬,其內(nèi)阻變大。
綜上所述,肖特基整流管的結(jié)構(gòu)原理與PN結(jié)整流管有很大的區(qū)別通常將PN結(jié)整流管稱作結(jié)整流管,而把金屬-半導(dǎo)管整流管叫作肖特基整流管,采用硅平面工藝制造的鋁硅肖特基勢壘二極管(SBD)也已問世,這不僅可節(jié)省貴金屬,大幅度降低成本,還改善了參數(shù)的一致性。
簡單來說,肖特基勢壘二極管(SBD)的PN結(jié)由p型半導(dǎo)體和n型半導(dǎo)體直接接觸而成。不同于普通的PN結(jié)二極管,肖特基勢壘二極管(SBD)只有一個金屬與p型半導(dǎo)體相連接,這個金屬與半導(dǎo)體相接處被稱為肖特基勢壘。當(dāng)在肖特基勢壘二極管(SBD)的p區(qū)施加穩(wěn)定的正向偏置電壓時,p區(qū)中的載流子可以被注入至n區(qū),形成一個空間電荷區(qū),并增大肖特基勢壘二極管(SBD)的導(dǎo)電性能,使其能夠承受更大的電流。反之,在反向偏置時,空間電荷區(qū)被擴(kuò)散和縮小,從而理論上可以獲得比標(biāo)準(zhǔn) PN 結(jié)二極管更好的開關(guān)速度。
通過上面簡述肖特基勢壘二極管(SBD)后,相信大家都有了一個最基本的了解,那我們就開始切入正題,講講溝槽式MOS勢壘肖特基二極管的種種吧。

四、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管的簡介
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管,英文全稱:Trench MOS Barrier Schottky Diode,簡稱:TMBS,是針對傳統(tǒng)平面肖特基二極管的性能瓶頸優(yōu)化而來的復(fù)合結(jié)構(gòu)功率半導(dǎo)體器件,融合了溝槽MOS的場調(diào)制能力與肖特基結(jié)的低損耗特性,核心目標(biāo)是提升反向阻斷能力并保持肖特基二極管的高頻優(yōu)勢。
大家都知道:傳統(tǒng)平面肖特基二極管存在鏡像力導(dǎo)致的勢壘降低效應(yīng),使其反向阻斷能力受到影響。為了抑制此不利因素,提高肖特基器件性能,在1993年,Mehrotra M及Baliga BJ首次提出TMBS器件(如下圖),解決了傳統(tǒng)平面肖特基二極管在高壓應(yīng)用中面臨的性能瓶頸。
所以TMBS的名稱也是來源于其結(jié)構(gòu)及工作原理,肖特基勢壘二極管(SBD)憑借其極低的正向?qū)▔航担╒F)和幾乎為零的反向恢復(fù)時間(Trr),在現(xiàn)代電子技術(shù)中占據(jù)舉足輕重的地位。

五、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)器件的結(jié)構(gòu)
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)器件結(jié)構(gòu)與平面肖特基二極管相比,就是在外延層表面多了一些刻蝕出來的溝槽,溝槽里填充導(dǎo)電材料(通常是多晶硅)(如下圖)。

下面詳細(xì)講一下溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)器件的結(jié)構(gòu),其主要包含溝槽柵MOSFET結(jié)構(gòu)、肖特基勢壘接觸及電荷耦合效應(yīng)三個核心部分,具體如下:
1、溝槽柵MOSFET結(jié)構(gòu)
在N型外延層表面通過干法刻蝕形成深溝槽,溝槽內(nèi)填充重?fù)诫sN型多晶硅(如硅化鋁或碳化硅),內(nèi)壁覆蓋SiO?介質(zhì)層隔離。溝槽之間形成柵極氧化層,形成溝槽柵結(jié)構(gòu),用于在反向偏置時對溝槽間的N型外延層進(jìn)行橫向耗盡。
2、肖特基勢壘接觸
溝槽頂部通過金屬(如鋁、鈦或鈦合金)與N型外延層形成肖特基勢壘接觸,構(gòu)成器件陽極。金屬選擇及合金比例直接影響正向壓降和反向漏電流。
順便講一下肖特基勢壘接觸吧:
肖特基勢壘接觸(Schottky Contact)是金屬與半導(dǎo)體材料直接接觸時,在界面處形成的一種具有整流特性的非線性電學(xué)接觸,與PN結(jié)類似的單向?qū)щ娦裕ㄈ缦聢D)。1938年德國物理學(xué)家肖特基(Schottky)較好的解釋這種接觸整流機(jī)理,因此以他的名字命名。

而金屬與半導(dǎo)體的功函數(shù)差異就是實(shí)現(xiàn)肖特基勢壘接觸的關(guān)鍵,功函數(shù)就是電子從材料內(nèi)部(費(fèi)米能級處)移動到真空中所需的最小能量。
當(dāng)金屬與N型半導(dǎo)體(低摻雜)接觸時,如果金屬的功函數(shù)大于N型半導(dǎo)體的功函數(shù)(Wm > Ws),電子會從半導(dǎo)體流向金屬,以降低整個系統(tǒng)的總能量。這種電荷轉(zhuǎn)移導(dǎo)致接觸面金屬側(cè)帶負(fù)電,而半導(dǎo)體側(cè)由于失去電子而帶正電,形成一個由半導(dǎo)體指向金屬的內(nèi)建電場(如下圖)。

這個電場會阻礙電子的進(jìn)一步流動,直到金屬和半導(dǎo)體的費(fèi)米能級對齊,系統(tǒng)達(dá)到熱力學(xué)平衡狀態(tài),形成一個對多數(shù)載流子具有阻礙作用的能量勢壘。
3、電荷耦合效應(yīng)
溝槽結(jié)構(gòu)使電場峰值從表面轉(zhuǎn)移到內(nèi)部,形成二維擴(kuò)展的耗盡區(qū)。這種效應(yīng)顯著降低了金屬-半導(dǎo)體界面的電場強(qiáng)度,抑制了鏡像力導(dǎo)致的勢壘降低效應(yīng),從而提高反向擊穿電壓并降低正向?qū)▔航担╒F)。
所以,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)是通過溝槽柵MOSFET和電荷耦合效應(yīng),克服了傳統(tǒng)平面肖特基二極管的勢壘降低問題,實(shí)現(xiàn)了高壓、低導(dǎo)通損耗的應(yīng)用。

六、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的工作原理
肖特基勢壘二極管(SBD)是基于肖特基接觸原理開發(fā)出來的(什么是肖特基接觸?),溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)相比于普通平面肖特基多了一個電荷耦合效應(yīng),因此在反向耐壓時原理有所不同。平面結(jié)構(gòu)的耗盡區(qū)僅沿縱向擴(kuò)展,電場分布呈三角形,電場峰值在表面(如下圖)。

溝槽結(jié)構(gòu)的耗盡區(qū)則呈現(xiàn)二維擴(kuò)展模式。一個是在漂移區(qū)形成的肖特基結(jié)縱向耗盡;一個是溝槽多晶中的自由電荷與N-漂移區(qū)發(fā)生的電荷耦合,在漂移區(qū)形成的MOS電容橫向耗盡。當(dāng)反向電壓增加時,這兩個方向的耗盡區(qū)會相互融合,最終在兩溝槽間形成一個均勻的、完全耗盡的漂移區(qū)。這種均勻的耗盡使得電場分布也變得更加平坦,形成一個近似矩形的電場分布(原理與SGT相同),有助于提高器件耐壓(如下圖)。

電荷耦合效應(yīng)的存在可以在保持器件耐壓的同時增加外延摻雜濃度(N-漂移區(qū)),降低肖特基二極管正向壓降。
講到這里,一定有人會問:溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的結(jié)構(gòu)為什么可以抑制勢壘降低效應(yīng)?
那是因?yàn)闇喜劢Y(jié)構(gòu)通過電荷耦合效應(yīng),將電場峰值從肖特基結(jié)表面轉(zhuǎn)移到器件內(nèi)部,降低了金屬-半導(dǎo)體界面的電場強(qiáng)度。鏡像力對勢壘高度的影響也隨之減小,從而顯著抑制了由該效應(yīng)引起的漏電流,最后就達(dá)到了抑制勢壘降低效應(yīng)。

七、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)器件的工藝流程
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)器件的工藝流程以溝槽結(jié)構(gòu)制備為核心,主要包括外延層生長、溝槽制備、柵結(jié)構(gòu)形成、金屬層沉積及封裝等核心步驟,同時,該均需要在高溫真空環(huán)境下進(jìn)行,確保各層質(zhì)量與器件性能的穩(wěn)定性。以下是具體流程:
1、外延
在高摻雜的襯底上,外延生長低摻雜的外延層N-;

2、氧化
在外延層表面淀積一層場氧層(SiO2),涂膠光刻顯影,刻蝕場氧化層形成MOS區(qū)(對應(yīng)溝槽柵結(jié)構(gòu))與肖特基接觸區(qū)的窗口,用于溝槽刻蝕掩膜層;

3、Trench光刻
通過干法刻蝕(如RIE或ICP),在肖特基接觸區(qū)刻蝕第一深度溝槽(更深,用于容納肖特基金屬),在MOS區(qū)刻蝕第二深度溝槽(較淺,用于填充多晶硅形成柵極)。部分工藝會分兩次光刻:第一次刻蝕有源區(qū)溝槽與終端耐壓環(huán)溝槽,第二次處理接觸孔。

4、掩膜刻蝕

5、去膠

6、再次Trench刻蝕

7、犧牲氧化

8、氧化層去除

9、再次氧化
在溝槽內(nèi)壁及表面熱生長SiO?絕緣層(厚度~50-100nm),用于隔離多晶硅與硅襯底;

10、多晶淀積

11、多晶刻蝕
通過LPCVD沉積N型重?fù)诫s多晶硅,填充溝槽后回刻至與外延層表面齊平(或略低)。終端耐壓環(huán)溝槽的多晶硅用于增強(qiáng)邊緣電場調(diào)制。通過大面積刻蝕,刻蝕掉表面多晶硅;

12、SiO2淀積

13、接觸光刻

14、接觸刻蝕+去膠
在外延層表面沉積絕緣氧化層,涂膠光刻顯影,打開肖特基接觸孔(對應(yīng)肖特基區(qū)溝槽頂部);

15、勢壘金屬淀積+退火
濺射或蒸鍍肖特基金屬(如鋁、鈦鎢合金),填充接觸孔并與硅表面反應(yīng)形成肖特基勢壘(通過快速熱退火RTA激活,溫度~400-500℃)。此步驟決定了器件的正向壓降與反向漏電流。退火后與低摻雜濃度的N-外延層形成肖特基接觸;

16、正面金屬淀積

17、金屬光刻+刻蝕
刻蝕掉不需要部分的金屬,用來隔離整個硅片(wafer)上的每個芯粒(die);

18、背面減薄+金屬蒸發(fā)
將硅片減薄至~50-100μm,背面沉積歐姆接觸金屬(如鎳、鈦),再淀積背面金屬(如銀、金),形成陰極電極,從而在襯底下面形成歐姆接觸的金屬;

綜上,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的工藝核心是通過溝槽結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)MOS場對肖特基結(jié)的電場調(diào)制,流程涵蓋“襯底-外延-溝槽-絕緣-金屬”五大環(huán)節(jié),每一步均需精準(zhǔn)控制以保證器件的“高耐壓、低損耗”特性。

八、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的性能優(yōu)勢
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的核心性能優(yōu)勢源于溝槽MOS結(jié)構(gòu)帶來的電場調(diào)制與勢壘抑制,相比傳統(tǒng)平面肖特基二極管(SBD),其優(yōu)勢可歸納為以下關(guān)鍵維度:
1、抑制勢壘降低效應(yīng),大幅提升反向阻斷能力
傳統(tǒng)平面SBD的反向耐壓受限于表面電場集中:金屬-半導(dǎo)體界面的強(qiáng)電場會引發(fā)“鏡像力效應(yīng)”,吸引半導(dǎo)體電子降低勢壘高度,導(dǎo)致反向漏電流增大、擊穿電壓下降。
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)通過溝槽電荷耦合效應(yīng),將電場峰值從肖特基表面轉(zhuǎn)移至器件內(nèi)部的外延層(溝槽拐角或底部):
a.溝槽內(nèi)的多晶硅自由電荷與N-漂移區(qū)形成橫向MOS電容,與縱向肖特基耗盡區(qū)相互融合,使漂移區(qū)形成均勻、完全耗盡的狀態(tài);
b.最終電場分布從“表面三角型”變?yōu)椤皟?nèi)部矩型”,金屬-半導(dǎo)體界面的電場強(qiáng)度顯著降低,鏡像力對勢壘的破壞被抑制,反向漏電流大幅減少。
2、更高的擊穿電壓,適配高壓場景
電荷耦合效應(yīng)不僅抑制漏電,還強(qiáng)化了器件的耐壓能力:
a.平面SBD的擊穿電壓受限于表面電場的“尖峰”,而溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的二維耗盡區(qū)擴(kuò)展使電場分布更平坦,擊穿電壓較平面結(jié)構(gòu)顯著提高1的“平面與溝槽肖特基特性對比”明確顯示溝槽結(jié)構(gòu)擊穿電壓更優(yōu));
b.進(jìn)一步解釋,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)將關(guān)斷狀態(tài)下的“擊穿點(diǎn)”從表面轉(zhuǎn)移至內(nèi)部,避免了表面缺陷對耐壓的影響。
3、更低的正向壓降,提升導(dǎo)通效率
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)可在保持耐壓的前提下,使用更高摻雜濃度的外延層:
a.傳統(tǒng)平面SBD若提高外延摻雜濃度,會加劇表面電場集中,導(dǎo)致反向漏電流驟增;而溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的電場調(diào)制能力允許外延層摻雜濃度提升,從而降低漂移區(qū)的電阻率;
b.更高的外延摻雜濃度直接減小了器件的正向?qū)娮瑁≧DS(on)),進(jìn)而降低正向壓降(VF);
4、繼承肖特基的高頻特性,開關(guān)速度更快
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)本質(zhì)仍是肖特基二極管,保留了無少數(shù)載流子存儲效應(yīng)的優(yōu)勢:
a.反向恢復(fù)時間(trr)縮短至納秒級,幾乎無反向恢復(fù)電荷(Qrr),適合高頻(>1MHz)開關(guān)應(yīng)用(如電源轉(zhuǎn)換、光伏逆變器);
b.強(qiáng)調(diào)溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)“優(yōu)異的高頻特性”;
5、參數(shù)易調(diào),適配多樣化需求
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的溝槽結(jié)構(gòu)參數(shù)(如深度、寬度、間距)可靈活調(diào)整,實(shí)現(xiàn)正向壓降(VF)與反向漏電流(IR)的平衡;
所以,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的核心價值在于解決了平面SBD“高壓下反向阻斷能力弱”的痛點(diǎn),通過溝槽MOS結(jié)構(gòu)的電場調(diào)制,實(shí)現(xiàn)了“高耐壓、低漏電、低導(dǎo)通損耗、高頻開關(guān)”的平衡,成為電源管理、新能源汽車、光伏等領(lǐng)域的關(guān)鍵器件。

九、溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)與平面肖特基二極管的區(qū)別
平面肖特基二極管具有優(yōu)異的高頻特性和較低的正向開啟電壓,這些獨(dú)特的性質(zhì)使得其在太陽能電池,開關(guān)電源、汽車以及手機(jī)等多個領(lǐng)域都有著巨大的應(yīng)用潛力。但是,在反向偏壓下,鏡像力導(dǎo)致的勢壘降低效應(yīng),導(dǎo)致了平面肖特基二極管阻斷能力差的缺點(diǎn)。
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)的結(jié)構(gòu)的出現(xiàn)很好地解決這個問題,其主要有兩個肖特基結(jié)相結(jié)合的雙勢壘金屬肖特基結(jié)二極管器件、利用PN結(jié)與肖特基結(jié)結(jié)合的含PN結(jié)構(gòu)的肖特基二極管,以及利用金屬-氧化物-半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)和肖特基結(jié)結(jié)合的溝槽式勢壘肖特基二極管(TMBS),并且溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)由于優(yōu)異的高頻特性及結(jié)構(gòu)參數(shù)的易調(diào)性,受到了更為廣泛的關(guān)注。
下面這張對比表足以很好的體現(xiàn)出溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)與平面肖特基二極管的區(qū)別:

十、總結(jié)一下
溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)得益于其在功率密度、效率及應(yīng)用領(lǐng)域的顯著優(yōu)勢,其前景非常廣闊。
據(jù)統(tǒng)計,2023年中國肖特基二極管市場規(guī)模達(dá)125億元,預(yù)計2025年新能源汽車領(lǐng)域需求占比將超30%2。隨著技術(shù)成熟和成本降低,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)有望在更多場景替代傳統(tǒng)器件,成為功率電子領(lǐng)域的核心組件。所以,綜上所講,溝槽式MOS勢壘肖特基二極管(TMBS)正憑借著技術(shù)突破和多場景適配,正迎來快速發(fā)展的黃金期。

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