從研發(fā)到生產(chǎn)線(xiàn)，電池阻抗測(cè)試儀BT4560系列都能快速、輕松地進(jìn)行EIS測(cè)試。此外，若增設(shè)掃描模塊機(jī)架SW1001/SW1002，便可輕松擴(kuò)展至多通道評(píng)估系統(tǒng)，從而實(shí)現(xiàn)多個(gè)電池的高精度EIS測(cè)量自動(dòng)化與效率提升。同時(shí)，由于配備了LAN接口，搭建檢查系統(tǒng)將更加便捷。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1

高精度和高穩(wěn)定的測(cè)量性能

BT4560系列可以精確測(cè)量?jī)?nèi)部阻抗低于1 mΩ的大容量電池?？商峁┚邆湓佻F(xiàn)性的數(shù)據(jù)，提高分析和評(píng)估的可靠性。

精度可與6位半高精度電壓表媲美。1臺(tái)儀器可同時(shí)測(cè)量電池電壓和阻抗。

采用4端子對(duì)測(cè)量，提高高頻測(cè)量的穩(wěn)定性。

2

用于研發(fā)的便利數(shù)據(jù)采集軟件

使用標(biāo)配的PC應(yīng)用軟件可輕松獲取EIS測(cè)量數(shù)據(jù)。該軟件還支持定期間隔測(cè)量，可用于評(píng)估溫度變化與內(nèi)部阻抗之間的相關(guān)性。

該軟件可控制專(zhuān)用掃描儀SW1001和SW1002，對(duì)多個(gè)電池進(jìn)行EIS 測(cè)量?？蛇M(jìn)行多達(dá)72個(gè)通道的EIS測(cè)量和奈奎斯特圖的實(shí)時(shí)顯示，以及以單一測(cè)量頻率記錄測(cè)量結(jié)果。

此外，可進(jìn)行等效電路分析，并創(chuàng)建奈奎斯特圖(科爾-科爾圖)的二維和三維比較圖。

3

質(zhì)量管理和在線(xiàn)檢測(cè)

適應(yīng)大容量電池的特性，可進(jìn)行低頻阻抗測(cè)試。低頻阻抗測(cè)試的目的和優(yōu)點(diǎn)：

• 在零交叉點(diǎn)*1進(jìn)行電芯篩選
• 為老化診斷積累數(shù)據(jù)
• 電芯、電池模組故障原因的分析
• 提高檢查的再現(xiàn)性(低頻測(cè)量可減輕渦流的影響)

＊1：奈奎斯特圖，頻率點(diǎn)位于X = 0 Ω。對(duì)于大容量電池，有向低于 1 kHz 的低頻轉(zhuǎn)移的趨勢(shì)。