尼得科精密檢測科技株式會社將亮相2025年12月17日(周三)～12月19日(周五)于東京國際會展中心舉辦的“SEMICON Japan 2025”（2025日本東京半導(dǎo)體展覽會）。

在本屆展覽會上，尼得科精密檢測科技將以“One Stop Solution（一站式解決方案）”為主題，展出面向AI服務(wù)器、功率半導(dǎo)體的前沿解決方案。展示內(nèi)容包括：專為面板級封裝和基板產(chǎn)品優(yōu)化的、融入了AI技術(shù)的AVI、2D/3D光學(xué)檢測設(shè)備，以及適用于IGBT/WBG器件等領(lǐng)域的晶圓（KGD）/模塊的電特性測試設(shè)備。同時還將根據(jù)市場趨勢提供前沿的檢測技術(shù)方案（例如：可滿足含熱管理在內(nèi)的新型檢測需求的探針卡等）。

〈參展概要〉

?展期：2025年12月17日(周三)～12月19日(周五)

?地點：東京國際會展中心 東展廳

?展位：4Hall E4922

?官網(wǎng)：https://www.semiconjapan.org/en

〈參展亮點〉

■光學(xué)檢測設(shè)備“RWi-300MK3”：融入了AI技術(shù)的2D+3D檢測

■功率半導(dǎo)體檢測設(shè)備“NATS Series”：可支持IGBT/WBG設(shè)備

■可支持高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡：應(yīng)用放電對策

■設(shè)備溫度測量探針：應(yīng)用熱電偶技術(shù)

■2D-MEMS 探針卡：適用2D-MEMS技術(shù)，支持CMOS圖像傳感器

■垂直型窄間距對應(yīng)探針卡：采用高精度電鍍技術(shù)，支持55μm窄間距

■探針“NS Probe”：利用MEMS工藝實現(xiàn)微細化與特殊形狀

■自動搬運裝置“EFEM”：支持工廠自動化

■通電檢測裝置“GATS-8360A”：面向AI·LEO衛(wèi)星基板

■通電檢測裝置“GATS-7885”：面向PLP/Interposer