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深入解析 onsemi NTD24N06L/STD24N06L MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-14 11:15 ? 次閱讀
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深入解析 onsemi NTD24N06L/STD24N06L MOSFET

在電子設(shè)計領(lǐng)域,MOSFET 是一種至關(guān)重要的元件,廣泛應用于各種電路中。今天我們來詳細解析 onsemi 公司的 NTD24N06L 和 STD24N06L 這兩款 N 溝道邏輯電平 MOSFET,看看它們有哪些特點和優(yōu)勢。

文件下載:NTD24N06L-D.PDF

一、產(chǎn)品概述

NTD24N06L 和 STD24N06L 專為低電壓、高速開關(guān)應用而設(shè)計,適用于電源轉(zhuǎn)換器、功率電機控制和橋電路等領(lǐng)域。它們具有 24A 的電流處理能力和 60V 的耐壓,能夠滿足多種應用場景的需求。

這兩款器件采用 DPAK 封裝,具有 S 前綴,適用于汽車和其他有獨特場地和控制變更要求的應用,并且通過了 AEC - Q101 認證,具備 PPAP 能力。同時,它們是無鉛的,符合 RoHS 標準。

二、關(guān)鍵參數(shù)與特性

1. 最大額定值

參數(shù) 數(shù)值
漏源電壓($V_{DS}$) 60V
漏柵電壓($R_{GS}=10MOmega$) 60V
非重復脈沖($tpleq10ms$)$V{GS}$ +20V
連續(xù)電流($T_A = 25^{circ}C$)$I_D$ 72A
總功率耗散($T_A = 25^{circ}C$) 62.5W
結(jié)到外殼熱阻$R_{theta JC}$ 2.4°C/W
最高結(jié)溫$T_J$ 260°C

這些參數(shù)為我們在設(shè)計電路時提供了重要的參考,確保器件在安全的工作范圍內(nèi)運行。

2. 電氣特性

  • 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓、柵體泄漏電流和零柵壓漏電流等。例如,漏源擊穿電壓($V_{GS}=0V$,$I_D = 250mu A$)典型值為 60V。
  • 導通特性:如柵閾值電壓、靜態(tài)漏源導通電阻等。靜態(tài)漏源導通電阻($V_{GS}=5.0V$,$I_D = 10A$)典型值為 36mΩ。
  • 動態(tài)特性:輸入電容、輸出電容和傳輸電容等。輸入電容($V{DS}=25V$,$V{GS}=0V$,$f = 1.0MHz$)典型值為 814pF。
  • 開關(guān)特性:包括導通延遲時間、上升時間、關(guān)斷延遲時間和下降時間等。導通延遲時間($V_{DD}=30V$,$ID = 24A$,$V{GS}=5.0V$,$R_G = 9.1Omega$)典型值為 9.4ns。

3. 源漏二極管特性

源漏二極管的正向?qū)妷汉头聪蚧謴蜁r間等參數(shù)也很重要。正向?qū)妷海?IS = 20A$,$V{GS}=0V$)典型值為 0.93V,反向恢復時間($IS = 24A$,$V{GS}=0V$,$dI_S/dt = 100A/mu s$)典型值為 49ns。

三、開關(guān)行為分析

功率 MOSFET 的開關(guān)行為可以通過電荷控制模型來建模和預測。由于漏柵電容隨施加電壓變化很大,所以通常使用柵極電荷數(shù)據(jù)來計算開關(guān)時間。

1. 開關(guān)時間計算

  • 上升和下降時間:在開關(guān)電阻性負載時,$V{GS}$在平臺電壓$V{GSP}$處基本保持不變,上升時間$t_r$可近似為$t_r = Q_2 × RG /(V{GG}-V{GSP})$,其中$V{GG}$是柵極驅(qū)動電壓,$R_G$是柵極驅(qū)動電阻,$Q2$和$V{GSP}$可從柵極電荷曲線讀取。
  • 導通和關(guān)斷延遲時間:在導通和關(guān)斷延遲期間,柵極電流不是恒定的。導通延遲時間$t{d(on)}$可通過$t{d(on)}=RG C{iss} ln [V{GG} /(V{GG}-V{GSP})]$計算,其中$C{iss}$是從電容曲線讀取的電容值,計算$t{d(on)}$時對應關(guān)斷狀態(tài)電壓,計算$t{d(off)}$時對應導通狀態(tài)電壓。

2. 寄生元件影響

在高開關(guān)速度下,寄生電路元件會使分析變得復雜。MOSFET 源極引線的電感、輸出電容以及內(nèi)部柵極電阻都會影響開關(guān)性能。例如,源極電感會產(chǎn)生電壓,降低柵極驅(qū)動電流,導致數(shù)學求解變得復雜。

四、安全工作區(qū)

1. 正向偏置安全工作區(qū)

正向偏置安全工作區(qū)曲線定義了晶體管在正向偏置時能夠安全處理的最大漏源電壓和漏電流。曲線基于最大峰值結(jié)溫和 25°C 的殼溫。峰值重復脈沖功率限制通過熱響應數(shù)據(jù)和相關(guān)程序確定。

2. 雪崩能量

E - FET 可以在無鉗位電感負載的開關(guān)電路中安全使用。但雪崩能量能力不是恒定的,會隨著雪崩峰值電流和峰值結(jié)溫的增加而非線性降低。能量額定值需要根據(jù)溫度進行降額。

五、封裝與訂購信息

1. 封裝尺寸

采用 DPAK3 6.10x6.54x2.28, 2.29P 封裝,具體尺寸如下: 尺寸 最小值 標稱值 最大值
A 2.18mm 2.28mm 2.38mm
b 0.63mm 0.76mm 0.89mm
D 5.97mm 6.10mm 6.22mm
E 6.35mm 6.54mm 6.73mm

2. 訂購信息

NTD24N06LT4G 采用 DPAK(無鉛)封裝,2500 個/卷帶包裝。而 STD24N06LT4G 已停產(chǎn),不建議用于新設(shè)計。

六、總結(jié)

onsemi 的 NTD24N06L 和 STD24N06L MOSFET 具有出色的性能和廣泛的應用場景。在設(shè)計電路時,我們需要充分考慮其各項參數(shù)和特性,合理選擇工作條件,以確保器件的安全和穩(wěn)定運行。同時,要注意寄生元件對開關(guān)性能的影響,采取相應的措施來優(yōu)化電路設(shè)計。大家在實際應用中是否遇到過類似 MOSFET 的使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享你的經(jīng)驗和見解。

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