onsemi N溝道UniFET MOSFET:FDP39N20與FDPF39N20的技術(shù)剖析
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)中,MOSFET是不可或缺的關(guān)鍵元件。今天,我們聚焦于安森美(onsemi)的兩款N溝道UniFET MOSFET——FDP39N20和FDPF39N20,深入剖析它們的特性、參數(shù)及應(yīng)用場(chǎng)景。
文件下載:FDPF39N20-D.PDF
產(chǎn)品概述
UniFET MOSFET是安森美基于平面條紋和DMOS技術(shù)打造的高壓MOSFET系列。該系列旨在降低導(dǎo)通電阻,同時(shí)提供更出色的開(kāi)關(guān)性能和更高的雪崩能量強(qiáng)度。FDP39N20和FDPF39N20適用于多種開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用,如功率因數(shù)校正(PFC)、平板顯示器(FPD)電視電源、ATX電源和電子燈鎮(zhèn)流器等。
產(chǎn)品特性
低導(dǎo)通電阻
在(V{GS}=10V)、(I{D}=19.5A)的條件下,(R_{DS(on)})最大為(66mOmega)。低導(dǎo)通電阻意味著在導(dǎo)通狀態(tài)下,MOSFET的功率損耗更低,能夠提高電源轉(zhuǎn)換效率,減少發(fā)熱,延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命。
低柵極電荷
典型柵極電荷為(38nC)。低柵極電荷可以降低驅(qū)動(dòng)MOSFET所需的能量,減少開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度,尤其適用于高頻開(kāi)關(guān)應(yīng)用。
低(C_{rss})
典型值為(57pF)。低(C_{rss})有助于降低米勒效應(yīng)的影響,減少開(kāi)關(guān)過(guò)程中的電壓尖峰和振蕩,提高開(kāi)關(guān)的穩(wěn)定性和可靠性。
100%雪崩測(cè)試
經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,表明該器件具有較高的雪崩能量強(qiáng)度,能夠承受瞬間的高能量沖擊,增強(qiáng)了在惡劣環(huán)境下的可靠性。
絕對(duì)最大額定值
| 兩款器件在不同參數(shù)下的絕對(duì)最大額定值如下表所示: | Symbol | Parameter | FDP39N20 | FDPF39N20 / FDPF39N20TLDTU | Unit |
|---|---|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | Drain - Source Voltage | 200 | 200 | V | |
| (I_{D}) | Drain Current - Continuous ((T_{C}=25^{circ}C)) | 39 | 39* | A | |
| (I_{D}) | Drain Current - Continuous ((T_{C}=100^{circ}C)) | 23.4 | 23.4* | A | |
| (I_{DM}) | Drain Current - Pulsed (Note 1) | 156 | 156* | A | |
| (V_{GSS}) | Gate - Source Voltage | ±30 | ±30 | V | |
| (E_{AS}) | Single Pulsed Avalanche Energy (Note 2) | 860 | 860 | mJ | |
| (I_{AR}) | Avalanche Current (Note 1) | 39 | 39 | A | |
| (E_{AR}) | Repetitive Avalanche Energy (Note 1) | 25.1 | 25.1 | mJ | |
| (dv/dt) | Peak Diode Recovery dv/dt (Note 3) | 4.5 | 4.5 | V/ns | |
| (P_{D}) | Power Dissipation ((T_{C}=25^{circ}C)) | 251 | 37 | W | |
| (P_{D}) | Power Dissipation - Derate Above (25^{circ}C) | 2.0 | 0.29 | (W/^{circ}C) | |
| (T{J}, T{STG}) | Operating and Storage Temperature Range | -55 to +150 | -55 to +150 | (^{circ}C) | |
| (T_{L}) | Maximum Lead Temperature for Soldering, 1/8” from Case for 5 Seconds | 300 | 300 | (^{circ}C) |
需要注意的是,超過(guò)這些最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。
電氣特性
靜態(tài)特性
- 擊穿電壓:(BVDSS)在(V{GS}=0V)、(I{D}=250mu A)時(shí)為(200V),確保了器件在高壓環(huán)境下的穩(wěn)定性。
- 閾值電壓:(V_{GS(th)})典型值為(3.0V),這是MOSFET開(kāi)始導(dǎo)通的臨界柵源電壓。
- 導(dǎo)通電阻:(R_{DS(on)})典型值為(0.056Omega),低導(dǎo)通電阻可降低導(dǎo)通損耗。
動(dòng)態(tài)特性
- 輸入電容:(C{iss})在(V{DS}=25V)、(V_{GS}=0V)、(f = 1.0MHz)時(shí),典型值為(1640pF),最大值為(2130pF)。
- 輸出電容:(C_{oss})典型值為(400pF),最大值為(520pF)。
- 反向傳輸電容:(C_{rss})典型值為(57pF),最大值為(85pF)。
開(kāi)關(guān)特性
- 開(kāi)啟延遲時(shí)間:(td(on))典型值為(30ns),最大值為(70ns)。
- 開(kāi)啟上升時(shí)間:(tr)典型值為(160ns),最大值為(330ns)。
- 關(guān)斷延遲時(shí)間:(td(off))典型值為(150ns),最大值為(310ns)。
- 關(guān)斷下降時(shí)間:(tf)典型值為(150ns),最大值為(310ns)。
- 總柵極電荷:(Qg)在(V{DS}=160V)、(I{D}=39A)、(V_{GS}=10V)時(shí),典型值為(38nC),最大值為(49nC)。
典型性能特性
文檔中提供了多個(gè)典型性能特性曲線,包括導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化以及最大安全工作區(qū)等。這些曲線有助于工程師在不同工作條件下準(zhǔn)確評(píng)估器件的性能。
應(yīng)用場(chǎng)景
FDP39N20和FDPF39N20適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景,如等離子電視(PDP TV)、照明、不間斷電源(UPS)和AC - DC電源等。在這些應(yīng)用中,它們的高性能特性能夠滿足電源轉(zhuǎn)換的需求,提高系統(tǒng)的效率和可靠性。
封裝與訂購(gòu)信息
| 兩款器件提供不同的封裝形式,具體如下: | Device | Device Marking | Package | Shipping |
|---|---|---|---|---|
| FDP39N20 | FDP39N20 | TO - 220 | 1000 Units / Tube | |
| FDPF39N20 | FDPF39N20 | TO - 220F | 1000 Units / Tube | |
| FDPF39N20TLDTU | FDPF39N20T | TO - 220F (L - formed) | 800 Units / Tube |
總結(jié)
安森美的FDP39N20和FDPF39N20 N溝道UniFET MOSFET以其低導(dǎo)通電阻、低柵極電荷、低(C_{rss})和高雪崩能量強(qiáng)度等特性,為開(kāi)關(guān)電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用提供了出色的解決方案。工程師在設(shè)計(jì)過(guò)程中,可以根據(jù)具體的應(yīng)用需求,參考器件的各項(xiàng)參數(shù)和典型性能特性,合理選擇和使用這兩款MOSFET,以實(shí)現(xiàn)高效、可靠的電源設(shè)計(jì)。
在實(shí)際應(yīng)用中,你是否遇到過(guò)MOSFET選擇和使用方面的挑戰(zhàn)?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見(jiàn)解。
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