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FDD86252 N-Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET:特性與應(yīng)用解析

lhl545545 ? 2026-04-17 14:40 ? 次閱讀
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FDD86252 N-Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET:特性與應(yīng)用解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,功率MOSFET是至關(guān)重要的元件,廣泛應(yīng)用于各種電源轉(zhuǎn)換和開關(guān)電路中。今天我們要深入探討的是FDD86252 N-Channel Shielded Gate PowerTrench? MOSFET,它由Fairchild Semiconductor生產(chǎn),現(xiàn)在已成為ON Semiconductor的一部分。

文件下載:FDD86252-D.pdf

一、產(chǎn)品背景與命名變更

隨著Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改以符合ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。由于ON Semiconductor的產(chǎn)品管理系統(tǒng)無(wú)法處理帶有下劃線(_)的零件命名,F(xiàn)airchild零件編號(hào)中的下劃線將改為破折號(hào)(-)。大家在使用時(shí),可通過ON Semiconductor網(wǎng)站驗(yàn)證更新后的設(shè)備編號(hào)。

二、FDD86252的特性

先進(jìn)技術(shù)

FDD86252采用了Fairchild Semiconductor先進(jìn)的PowerTrench?工藝,并結(jié)合了屏蔽柵技術(shù)。這種工藝在優(yōu)化導(dǎo)通電阻的同時(shí),還能保持出色的開關(guān)性能。具體來說,在不同的柵源電壓和漏極電流條件下,其導(dǎo)通電阻表現(xiàn)如下:

  • 在(V{GS}=10V),(I{D}=5A)時(shí),最大(r_{DS(on)} = 52mΩ);
  • 在(V{GS}=6V),(I{D}=4A)時(shí),最大(r_{DS(on)} = 72mΩ)。

其他特性

  • 100% UIL測(cè)試:經(jīng)過100%的非鉗位感性負(fù)載測(cè)試,保證了產(chǎn)品在實(shí)際應(yīng)用中的可靠性。
  • RoHS合規(guī):符合RoHS標(biāo)準(zhǔn),滿足環(huán)保要求。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

FDD86252主要應(yīng)用于DC - DC轉(zhuǎn)換領(lǐng)域。在DC - DC轉(zhuǎn)換電路中,其低導(dǎo)通電阻和良好的開關(guān)性能能夠有效降低功耗,提高轉(zhuǎn)換效率。

四、產(chǎn)品參數(shù)

最大額定值

在(T_{C}=25^{circ}C)(除非另有說明)的條件下,F(xiàn)DD86252的最大額定值如下: 符號(hào) 參數(shù) 額定值 單位
(V_{DS}) 漏源電壓 150 V
(V_{GS}) 柵源電壓 ±20 V
(I_{D}) 漏極電流 - 連續(xù)((T_{C}=25^{circ}C)) 27 A
(I_{D}) 漏極電流 - 連續(xù)((T_{A}=25^{circ}C),注1a) 5 A
(I_{D}) 漏極電流 - 脈沖(注4) 30 A
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量(注3) 72 mJ
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 89 W
(P_{D}) 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C),注1a) 3.1 W
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲(chǔ)結(jié)溫范圍 -55 至 +150 °C

熱特性

符號(hào) 參數(shù) 單位
(R_{θJC}) 結(jié)到殼的熱阻 1.4 °C/W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(注1a) 40 °C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • (BV_{DSS}):漏源擊穿電壓,在(I{D}=250μA),(V{GS}=0V)時(shí)為150V。
  • (frac{ΔBV{DSS}}{ΔT{J}}):擊穿電壓溫度系數(shù),在(I_{D}=250μA),參考25°C時(shí)為104mV/°C。
  • (I_{DSS}):零柵壓漏極電流,在(V{DS}=120V),(V{GS}=0V)時(shí)最大為1μA。
  • (I_{GSS}):柵源泄漏電流,在(V{GS}=±20V),(V{DS}=0V)時(shí)最大為±100nA。

導(dǎo)通特性

  • (V_{GS(th)}):柵源閾值電壓,在(V{GS}=V{DS}),(I_{D}=250μA)時(shí),范圍為2.0 - 4.0V。
  • (frac{ΔV{GS(th)}}{ΔT{J}}):柵源閾值電壓溫度系數(shù),在(I_{D}=250μA),參考25°C時(shí)為 - 10mV/°C。
  • (r_{DS(on)}):靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻,在不同條件下有不同的值,如(V{GS}=10V),(I{D}=5A)時(shí),范圍為41 - 52mΩ。
  • (g_{FS}):正向跨導(dǎo),在(V{DS}=10V),(I{D}=5A)時(shí)為15S。

動(dòng)態(tài)特性

  • (C_{iss}):輸入電容,在(V{DS}=75V),(V{GS}=0V),(f = 1MHz)時(shí),范圍為741 - 985pF。
  • (C_{oss}):輸出電容,范圍為78 - 130pF。
  • (C_{rss}):反向傳輸電容,范圍為4.2 - 10pF。
  • (R_{g}):柵極電阻為0.4Ω。

開關(guān)特性

在(V{DD}=75V),(I{D}=5A),(V{GS}=10V),(R{GEN}=6Ω)的條件下,開關(guān)特性如下:

  • 開啟延遲時(shí)間(t_{d(on)})為8.3ns。
  • 上升時(shí)間(t_{r})為10ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間(t_{d(off)})為25ns。
  • 下降時(shí)間(t_{f})為10ns。
  • 總柵極電荷(Q_{g})為17nC。

漏源二極管特性

  • (V_{SD}):源漏二極管正向電壓,在不同的源極電流下有不同的值,如(V{GS}=0V),(I{S}=5A)(注2)時(shí),范圍為0.80 - 1.3V。
  • (t_{rr}):反向恢復(fù)時(shí)間,在(I_{F}=5A),(di/dt = 100A/μs)時(shí),范圍為60 - 97ns。
  • (Q_{rr}):反向恢復(fù)電荷,范圍為72 - 115nC。

五、典型特性曲線

文檔中還給出了一系列典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、歸一化導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、歸一化導(dǎo)通電阻與結(jié)溫的關(guān)系等。這些曲線能夠幫助工程師更好地了解FDD86252在不同工作條件下的性能表現(xiàn)。

六、注意事項(xiàng)

  • ON Semiconductor保留對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行更改而不另行通知的權(quán)利。
  • 該公司不保證其產(chǎn)品適用于任何特定用途,也不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用而產(chǎn)生的任何責(zé)任。
  • FDD86252產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA 3類醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備,以及用于人體植入的設(shè)備。

在實(shí)際設(shè)計(jì)中,大家需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,仔細(xì)評(píng)估FDD86252的各項(xiàng)參數(shù),確保其能夠滿足設(shè)計(jì)要求。同時(shí),也要關(guān)注產(chǎn)品的最新信息和變更,以保證設(shè)計(jì)的可靠性和穩(wěn)定性。你在使用FDD86252或其他功率MOSFET時(shí),遇到過哪些問題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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