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FQD11P06 / FQU11P06 P溝道QFET? MOSFET:特性與應(yīng)用解析

lhl545545 ? 2026-04-14 16:55 ? 次閱讀
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FQD11P06 / FQU11P06 P溝道QFET? MOSFET:特性與應(yīng)用解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,功率MOSFET是至關(guān)重要的元件,廣泛應(yīng)用于各種電源和功率控制電路中。今天我們要探討的FQD11P06 / FQU11P06 P溝道QFET? MOSFET,是Fairchild Semiconductor的一款優(yōu)秀產(chǎn)品,它具備諸多出色特性,下面就為大家詳細(xì)介紹。

文件下載:FQU11P06-D.pdf

產(chǎn)品背景與更名說(shuō)明

Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改,原編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)(-)。大家可通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實(shí)更新后的設(shè)備編號(hào)。

產(chǎn)品概述

FQD11P06 / FQU11P06是P溝道增強(qiáng)型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor專有的平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)技術(shù)經(jīng)過(guò)特別優(yōu)化,能有效降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該產(chǎn)品適用于開(kāi)關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開(kāi)關(guān)電源等應(yīng)用。

產(chǎn)品特性

電氣性能

  • 高電流與電壓處理能力:能夠承受 -9.4 A的連續(xù)電流((T{C}=25^{circ}C)),耐壓達(dá) -60 V,在 (V{GS}=-10 V) 時(shí),最大導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}) 為185 mΩ。
  • 低柵極電荷:典型值為13 nC,有助于減少開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。
  • 低Crss:典型值為45 pF,可降低米勒效應(yīng),改善開(kāi)關(guān)性能。
  • 100%雪崩測(cè)試:確保了產(chǎn)品在雪崩狀態(tài)下的可靠性。

熱特性

  • 低熱阻:結(jié)到外殼的熱阻 (R_{theta JC}) 最大為3.28 °C/W,有助于熱量散發(fā),提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性。

絕對(duì)最大額定值

符號(hào) 參數(shù) FQD11P06 TM / FQU11P06TU 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 -60 V
(I_{D}) 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=25^{circ}C)) -9.4 A
(I_{D}) 漏極電流(連續(xù),(T_{C}=100^{circ}C)) -5.95 A
(I_{DM}) 漏極脈沖電流 -37.6 A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ± 30 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 160 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 -9.4 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 3.8 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù)dv/dt -7.0 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) 2.5 W
(P_{D}) 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 38 W
25°C以上降額 0.3 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 -55 至 +150 °C
(T_{L}) 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8 ",5秒) 300 °C

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓 (B_{VDSS}):為 -60 V。
  • 擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta B{VDSS} / Delta T{J}):為 -0.07 V/°C。
  • 零柵壓漏極電流 (I_{DSS}):最大為 -100 nA。
  • 柵體正向和反向泄漏電流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}):最大為100 nA。

導(dǎo)通特性

  • 柵極閾值電壓 (V_{GS(th)}):在 (V{DS}=V{GS}),(I_{D}=-250 mu A) 時(shí),范圍為 -2.0 至 -4.0 V。
  • 靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R_{DS(on)}):在 (V{GS}=-10 V),(I{D}=-4.7 A) 時(shí),典型值為0.15 Ω,最大值為0.185 Ω。
  • 正向跨導(dǎo) (g_{FS}):在 (V{DS}=-30 V),(I{D}=-4.7 A) 時(shí),典型值為4.9 S。

動(dòng)態(tài)特性

  • 輸入電容 (C_{iss}):典型值為420 pF,最大值為550 pF。
  • 輸出電容 (C_{oss}):典型值為195 pF,最大值為250 pF。
  • 反向傳輸電容 (C_{rss}):典型值為45 pF,最大值為60 pF。

開(kāi)關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間 (t_{d(on)}):最大為6.5 ns。
  • 導(dǎo)通上升時(shí)間 (t_{r}):范圍為40 至 90 ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間 (t_{d(off)}):范圍為15 至 40 ns。
  • 關(guān)斷下降時(shí)間 (t_{f}):范圍為45 至 100 ns。
  • 總柵極電荷 (Q_{g}):在 (V{DS}=-48 V),(I{D}=-11.4 A),(V_{GS}=-10 V) 時(shí),典型值為13 nC,最大值為17 nC。
  • 柵源電荷 (Q_{gs}):典型值為2.0 nC。
  • 柵漏電荷 (Q_{gd}):典型值為6.3 nC。

漏源二極管特性

  • 最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I_{S}):為 -9.4 A。
  • 最大脈沖漏源二極管正向電流 (I_{SM}):為 -37.6 A。
  • 漏源二極管正向電壓 (V_{SD}):在 (V{GS}=0 V),(I{S}=-9.4 A) 時(shí)為 -4.0 V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間 (t_{rr}):典型值為83 ns。
  • 反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr}):典型值為0.26 μC。

典型特性曲線

文檔中還提供了一系列典型特性曲線,包括導(dǎo)通電阻與漏極電流和柵極電壓的關(guān)系、體二極管正向電壓與源極電流和溫度的關(guān)系、轉(zhuǎn)移特性、電容特性、柵極電荷特性等。這些曲線有助于工程師更好地理解產(chǎn)品在不同工作條件下的性能。

封裝與訂購(gòu)信息

零件編號(hào) 頂部標(biāo)記 封裝 包裝方式 卷軸尺寸 膠帶寬度 數(shù)量
FQD11P06TM FQD11P06 D - PAK 卷帶包裝 330 mm 16 mm 2500 個(gè)
FQU11P06TU FQU11P06 I - PAK 管裝 N/A N/A 70 個(gè)

注意事項(xiàng)

系統(tǒng)集成

由于Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分零件編號(hào)可能會(huì)發(fā)生變化,使用時(shí)需注意核實(shí)。

應(yīng)用限制

該產(chǎn)品不適合用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或類似分類的醫(yī)療設(shè)備,以及用于人體植入的設(shè)備。若用于非預(yù)期或未經(jīng)授權(quán)的應(yīng)用,買方需承擔(dān)相關(guān)責(zé)任。

性能驗(yàn)證

“典型”參數(shù)在不同應(yīng)用中可能會(huì)有所變化,實(shí)際性能也可能隨時(shí)間變化,因此所有工作參數(shù)都需要由客戶的技術(shù)專家針對(duì)每個(gè)客戶應(yīng)用進(jìn)行驗(yàn)證。

在實(shí)際設(shè)計(jì)中,大家可以根據(jù)上述特性和參數(shù),結(jié)合具體應(yīng)用場(chǎng)景,合理選擇和使用FQD11P06 / FQU11P06 P溝道QFET? MOSFET。你在使用這類MOSFET時(shí)遇到過(guò)哪些問(wèn)題呢?歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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