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深入解析FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET

lhl545545 ? 2026-04-14 16:50 ? 次閱讀
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深入解析FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET

一、前言

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,功率MOSFET是不可或缺的關(guān)鍵元件。今天我們要詳細(xì)探討的是Fairchild Semiconductor(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)的FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET,它具有獨(dú)特的性能特點(diǎn)和廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,對(duì)于電子工程師來(lái)說(shuō),深入了解這款器件的特性和參數(shù),對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)至關(guān)重要。

文件下載:FQU17P06-D.pdf

二、產(chǎn)品背景與整合信息

Fairchild Semiconductor已成為ON Semiconductor的一部分。由于系統(tǒng)要求,部分Fairchild可訂購(gòu)的零件編號(hào)需要更改,原編號(hào)中的下劃線(_)將改為破折號(hào)(-)。大家可通過(guò)ON Semiconductor網(wǎng)站(www.onsemi.com)核實(shí)更新后的器件編號(hào),獲取最新的訂購(gòu)信息。若對(duì)系統(tǒng)集成有疑問(wèn),可發(fā)郵件至Fairchild_questions@onsemi.com。

三、FQD17P06 / FQU17P06 MOSFET概述

3.1 基本描述

FQD17P06 / FQU17P06是P-Channel增強(qiáng)模式功率MOSFET,采用Fairchild Semiconductor專(zhuān)有的平面條紋和DMOS技術(shù)制造。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過(guò)特別調(diào)整,可降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開(kāi)關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。該器件適用于開(kāi)關(guān)模式電源音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開(kāi)關(guān)電源等應(yīng)用。

3.2 產(chǎn)品特性

  • 高電流與耐壓能力:能夠承受 -12 A的連續(xù)電流和 -60 V的漏源電壓,最大導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}=135 mΩ)(在 (V{GS}=-10 V),(I_{D}=-6 A) 時(shí))。
  • 低門(mén)極電荷:典型門(mén)極電荷為21 nC,有助于降低開(kāi)關(guān)損耗,提高開(kāi)關(guān)速度。
  • 低Crss:典型值為80 pF,可減少米勒效應(yīng),改善開(kāi)關(guān)性能。
  • 100%雪崩測(cè)試:保證了器件在雪崩情況下的可靠性和穩(wěn)定性。

四、關(guān)鍵參數(shù)分析

4.1 絕對(duì)最大額定值

符號(hào) 參數(shù) FQD17P06 / FQU17P06 單位
(V_{DSS}) 漏源電壓 -60 V
(I_{D}) 連續(xù)漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) -12 A
連續(xù)漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) -7.6 A
(I_{DM}) 脈沖漏極電流 -48 A
(V_{GSS}) 柵源電壓 ± 25 V
(E_{AS}) 單脈沖雪崩能量 300 mJ
(I_{AR}) 雪崩電流 -12 A
(E_{AR}) 重復(fù)雪崩能量 4.4 mJ
(dv/dt) 峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) -7.0 V/ns
(P_{D}) 功率耗散((T_{A}=25^{circ}C)) 2.5 W
功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) 44 W
25°C以上降額 0.35 W/°C
(T{J}, T{STG}) 工作和存儲(chǔ)溫度范圍 -55 to +150 °C
(T_{L}) 焊接時(shí)最大引腳溫度(距外殼1/8”,5秒) 300 °C

4.2 熱特性

符號(hào) 參數(shù) FQD17P06 / FQU17P06 單位
(R_{θJC}) 結(jié)到外殼的熱阻(最大) 2.85 °C / W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(2盎司銅最小焊盤(pán)) 110 °C / W
(R_{θJA}) 結(jié)到環(huán)境的熱阻(1平方英寸2盎司銅焊盤(pán)) 50 °C / W

4.3 電氣特性

  • 關(guān)斷特性:包括漏源擊穿電壓 (B{VDS})、擊穿電壓溫度系數(shù) (Delta B{VDS} / Delta T{J})、零柵壓漏極電流 (I{DSS})、柵體泄漏電流 (I{GSSF}) 和 (I{GSSR}) 等。
  • 導(dǎo)通特性:如柵極閾值電壓 (V{GS(th)})、靜態(tài)漏源導(dǎo)通電阻 (R{DS(on)}) 和正向跨導(dǎo) (g_{FS})。
  • 動(dòng)態(tài)特性:涵蓋輸入電容 (C{iss})、輸出電容 (C{oss})、反向傳輸電容 (C_{rss}) 等。
  • 開(kāi)關(guān)特性:包括開(kāi)啟延遲時(shí)間 (t{d(on)})、開(kāi)啟上升時(shí)間 (t{r})、關(guān)斷延遲時(shí)間 (t{d(off)}) 和關(guān)斷下降時(shí)間 (t{f}) 等。
  • 漏源二極管特性:有最大連續(xù)漏源二極管正向電流 (I{S})、最大脈沖漏源二極管正向電流 (I{SM})、漏源二極管正向電壓 (V{SD})、反向恢復(fù)時(shí)間 (t{rr}) 和反向恢復(fù)電荷 (Q_{rr})。

五、典型性能特性

文檔中給出了多個(gè)典型性能特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、電容特性、體二極管正向電壓隨源電流和溫度的變化、柵極電荷特性等。這些曲線有助于工程師在不同工作條件下準(zhǔn)確評(píng)估器件的性能。

六、封裝與訂購(gòu)信息

6.1 封裝形式

  • FQD17P06采用D-PAK封裝,通過(guò)帶盤(pán)包裝,盤(pán)尺寸為330 mm,帶寬度為16 mm,每盤(pán)2500個(gè)單位。
  • FQU17P06采用I-PAK封裝,采用管裝,每管70個(gè)單位。

6.2 訂購(gòu)信息

文檔提供了具體的零件編號(hào)、頂部標(biāo)記、封裝和包裝方法等信息,方便工程師進(jìn)行訂購(gòu)。

七、測(cè)試電路與波形

文檔還給出了柵極電荷測(cè)試電路及波形、電阻性開(kāi)關(guān)測(cè)試電路及波形、非鉗位電感開(kāi)關(guān)測(cè)試電路及波形和峰值二極管恢復(fù) (dv/dt) 測(cè)試電路及波形等,這些測(cè)試電路和波形有助于工程師理解器件在不同測(cè)試條件下的工作情況,為實(shí)際應(yīng)用提供參考。

八、機(jī)械尺寸與注意事項(xiàng)

文檔提供了TO252(D-PAK)和TO251(I-PAK)封裝的機(jī)械尺寸圖,并提醒用戶圖紙可能會(huì)隨時(shí)更改,應(yīng)注意圖紙的修訂和日期,可通過(guò)Fairchild Semiconductor的在線包裝區(qū)域獲取最新的封裝圖紙。

九、商標(biāo)與免責(zé)聲明

文檔列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司擁有的眾多商標(biāo),同時(shí)強(qiáng)調(diào)了公司對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)的權(quán)利,不承擔(dān)因產(chǎn)品應(yīng)用或使用而產(chǎn)生的任何責(zé)任,以及產(chǎn)品不授權(quán)用于生命支持設(shè)備等重要信息。

十、總結(jié)

FQD17P06 / FQU17P06 P-Channel QFET? MOSFET憑借其出色的性能特點(diǎn)和廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景,為電子工程師提供了一個(gè)可靠的選擇。在實(shí)際設(shè)計(jì)中,工程師需要根據(jù)具體的應(yīng)用需求,綜合考慮器件的各項(xiàng)參數(shù)和性能特性,合理選擇和使用該器件,以實(shí)現(xiàn)電路的優(yōu)化設(shè)計(jì)。同時(shí),要密切關(guān)注ON Semiconductor的相關(guān)信息更新,確保使用到最新的產(chǎn)品和技術(shù)。大家在使用這款器件的過(guò)程中,有沒(méi)有遇到過(guò)什么特別的問(wèn)題或者有什么獨(dú)特的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)?zāi)??歡迎在評(píng)論區(qū)分享交流。

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